@prefix rdr: . @prefix skos: . @prefix isothes: . @prefix rdfs: . rdr:-V4C0ZXWQ-T skos:prefLabel "ensayo de equipo de conexión"@es, "essai d'appareillage de connexion"@fr, "switchgear test"@en ; a skos:Concept . rdr:-F9K0JVXJ-D skos:prefLabel "optical imaging"@en, "imagenología óptica"@es, "imagerie optique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-D4SP2Z97-Z skos:prefLabel "imagenología de onda submilimétrica"@es, "submillimeter wave imaging"@en, "imagerie par onde submillimétrique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-L202LB5K-P skos:prefLabel "prueba de alta temperatura"@es, "high-temperature test"@en, "essai à haute température"@fr ; a skos:Concept . rdr:-L347NWZN-Z skos:prefLabel "essai fonctionnel"@fr, "prueba funcional"@es, "functional test"@en ; a skos:Concept . rdr:-LB503R2X-S skos:prefLabel "analyse de circuit assistée par ordinateur"@fr, "circuit analysis computing"@en, "análisis de circuito asistido"@es ; a skos:Concept . rdr:-KRWRPQ1L-S skos:prefLabel "imagenología UV"@es, "imagerie UV"@fr, "ultraviolet imaging"@en ; a skos:Concept . rdr:-M6WW8KPF-F skos:prefLabel "análisis de asequibilidad"@es, "reachability analysis"@en, "analyse d'atteignabilité"@fr ; a skos:Concept . rdr:-K2FHQBQ5-4 skos:prefLabel "medición eléctrica"@es, "mesure électrique"@fr, "electrical measurement"@en ; a skos:Concept . rdr:-SX19SDBX-5 skos:prefLabel "análisis de circuito"@es, "analyse de circuit"@fr, "network analysis"@en ; a skos:Concept . skos:prefLabel "Technique / Méthode"@fr, "Technique / Method"@en ; a isothes:ConceptGroup, skos:Collection ; isothes:subGroup . rdr:-RN9P4DQF-G skos:prefLabel "caracterización de equipo"@es, "caractérisation d'appareillage"@fr, "equipment characterization"@en ; a skos:Concept . rdr:-RWDCP627-8 skos:prefLabel "dielectric test"@en, "essai diélectrique"@fr, "prueba dieléctrica"@es ; a skos:Concept . rdr:-RCKCP2T1-N skos:prefLabel "estimation de défaut"@fr, "estimación de imperfección"@es, "defect valuation"@en ; a skos:Concept . rdr:-PLFH69C8-P skos:prefLabel "sonar imaging"@en, "imagerie sonar"@fr, "imagenología sonar"@es ; a skos:Concept . rdr:-DKVXBQJ0-N skos:prefLabel "prueba de equipo electrónico"@es, "electronic equipment test"@en, "essai d'équipement électronique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-JH8QXZP6-7 skos:prefLabel "prueba de humedad"@es, "moisture test"@en, "essai hygrométrique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-JDJG8FVD-0 skos:prefLabel "contrôle intelligent"@fr, "control inteligente"@es, "intelligent control"@en ; a skos:Concept . rdr:-J4CCNB0S-3 skos:prefLabel "análisis de modos proprios"@es, "analyse des modes propres"@fr, "normal-mode analysis"@en ; a skos:Concept . rdr:-BH1XJZ72-S skos:prefLabel "mesure de caractéristiques"@fr, "characteristics measurement"@en, "medida de característica"@es ; a skos:Concept . rdr:-CH5C3H83-H skos:prefLabel "detección de imperfección"@es, "détection de défaut"@fr, "defect detection"@en ; a skos:Concept . rdr:-BRSW2Q2D-8 skos:prefLabel "detección de defecto estructural"@es, "détection de défaut structurel"@fr, "flaw detection"@en ; a skos:Concept . rdr:-DRWJ9GXT-8 skos:prefLabel "control de variable eléctrica"@es, "electric variables control"@en, "contrôle de variable électrique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-GNG9429H-K skos:prefLabel "contra contra-medida electrónica"@es, "contre contre-mesure électronique"@fr, "electronic countercountermeasure"@en ; a skos:Concept . rdr:-HGXKZTQB-4 skos:prefLabel "essai thermique préliminaire"@fr, "prueba térmica preliminar"@es, "burn in test"@en ; a skos:Concept . rdr:-N8J22H3X-K skos:prefLabel "imagenología de impedancia eléctrica"@es, "electric impedance imaging"@en, "imagerie d'impédance électrique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-QFHP9NFL-7 skos:prefLabel "failure analysis"@en, "analyse de dommage"@fr, "análisis de avería"@es ; a skos:Concept . rdr:-NBMDCMQR-Q skos:prefLabel "auditory imagery"@en, "imagerie auditive"@fr, "imagenología auditiva"@es ; a skos:Concept . rdr:-R9PH905Q-0 skos:prefLabel "medida de corriente eléctrico"@es, "mesure de courant électrique"@fr, "electric current measurement"@en ; a skos:Concept . rdr: a skos:ConceptScheme . rdr:-PGV1L0KS-Q skos:prefLabel "mesure de résistance électrique"@fr, "electric resistance measurement"@en, "medida de resistencia eléctrica"@es ; a skos:Concept . rdr:-NQL6RPN1-P skos:prefLabel "microscopía Auger"@es, "microscopie Auger"@fr, "Auger microscopy"@en ; a skos:Concept . rdr:-F7PTZZ1L-0 skos:prefLabel "espectrometría SIMS"@es, "secondary ion mass spectrometry"@en, "spectrométrie SIMS"@fr ; a skos:Concept . rdr:-ZFCBS33D-R skos:prefLabel "semiconductor device measurement"@en, "medida de dispositivo semiconductor"@es, "mesure de dispositif semiconducteur"@fr ; a skos:Concept . rdr:-RFW8L98F-J skos:prefLabel "medida de inductancia"@es, "mesure d'inductance"@fr, "inductance measurement"@en ; a skos:Concept . rdr:-N9DGSNTP-R skos:prefLabel "imagenología CCD"@es, "imagerie CCD"@fr, "CCD imaging"@en ; a skos:Concept . rdr:-CCJ84Q3Q-D skos:prefLabel "implant method"@en, "méthode d'implant"@fr, "método de injerto"@es ; a skos:Concept . rdr:-DC0SMPJS-T skos:prefLabel "estimation de retard"@fr, "estimación de retardo"@es, "delay estimation"@en ; a skos:Concept . rdr:-TPMXF4QG-P skos:prefLabel "spot checking"@en, "contrôle ponctuel"@fr, "control puntual"@es ; a skos:Concept . rdr:-K623MP15-H skos:prefLabel "análisis de tolerancia"@es, "analyse de tolérance"@fr, "tolerance analysis"@en ; a skos:Concept . rdr:-BX66FV6V-9 skos:prefLabel "essai de dispositif électronique"@fr, "ensayo de dispositivo electrónico"@es, "electron device test"@en ; a skos:Concept . rdr:-FW0VPMKP-K skos:prefLabel "electric noise measurement"@en, "medida de ruido electrónico"@es, "mesure de bruit électrique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-GTF47T9B-W skos:prefLabel "waveform analysis"@en, "analyse de forme d'onde"@fr, "análisis de forma de onda"@es ; a skos:Concept . rdr:-LXSFTKDV-W skos:prefLabel "medida de impedancia eléctica"@es, "electric impedance measurement"@en, "mesure d'impédance électrique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-PB529R3J-6 skos:prefLabel "essai thermique"@fr, "prueba térmica"@es, "thermal test"@en ; a skos:Concept . rdr:-SWMSXS3S-8 skos:prefLabel "análisis transitorio"@es, "transient analysis"@en, "analyse transitoire"@fr ; a skos:Concept . rdr:-DQ85RQZT-0 skos:prefLabel "imagerie intégrale"@fr, "integral imaging"@en, "imagenología integral"@es ; a skos:Concept . rdr:-Q70Z91LT-M skos:prefLabel "operation study"@en, "analyse de fonctionnement"@fr, "análisis de funcionamiento"@es ; a skos:Concept . rdr:-M846R7ZM-F skos:prefLabel "circuit test"@en, "essai de circuit"@fr, "ensayo de circuito"@es ; a skos:Concept . rdr:-DSDJCLW0-2 skos:prefLabel "medida de factor de calidad"@es, "mesure de facteur de qualité"@fr, "Q-factor measurement"@en ; a skos:Concept . rdr:-B79GDCX8-F skos:prefLabel "contrôle de fabrication"@fr, "control de fabricación"@es, "processing control"@en ; a skos:Concept . rdr:-J5R5L3ZM-8 skos:prefLabel "prueba automática"@es, "essai automatique"@fr, "automatic test"@en ; a skos:Concept . rdr:-LLS28NXT-0 skos:prefLabel "corte transverso"@es, "cross section"@en, "coupe transversale"@fr ; a skos:Concept . rdr:-BL8X779W-X skos:prefLabel "caractérisation de défaut"@fr, "defect characterization"@en, "caracterización de defecto"@es ; a skos:Concept . rdr:-KMV8BQH0-2 skos:prefLabel "analyse des modes de défaillance"@fr, "failure-mode analysis"@en, "análisis de modo de fallo"@es ; a skos:Concept . rdr:-BXLTXS9F-C skos:prefLabel "détection de maximum de vraisemblance"@fr, "detección de máxima verosimilitud"@es, "maximum likelihood detection"@en ; a skos:Concept . rdr:-P9SZFH3N-R skos:prefLabel "imagenología catadióptrica"@es, "imagerie catadioptrique"@fr, "catadioptric imaging"@en ; a skos:Concept . rdr:-PB8SQ320-3 skos:prefLabel "imagerie thermique"@fr, "imagenología térmica"@es, "thermal imaging"@en ; a skos:Concept . rdr:-M1CLJNQJ-8 skos:prefLabel "electrical test"@en, "essai électrique"@fr, "prueba eléctrica"@es ; a skos:Concept . rdr:-F8WGGHZ2-5 skos:prefLabel "espectrometría transitoria de nivel profundo"@es, "spectrométrie transitoire de niveau profond"@fr, "deep level transient spectrometry"@en ; a skos:Concept . rdr:-VW4X6L6V-Q skos:prefLabel "prueba de escaneo"@es, "test par balayage"@fr, "scan test"@en ; a skos:Concept . rdr:-R1KJQ6QD-V skos:prefLabel "integrated circuit measurement"@en, "medida de circuito integrado"@es, "mesure de circuit intégré"@fr ; a skos:Concept . rdr:-GQ887VK0-4 skos:prefLabel "accelerated aging test"@en, "essai de vieillissement accéléré"@fr, "prueba de envejecimiento acelerado"@es ; a skos:Concept . rdr:-BBS3LWVM-B skos:prefLabel "optical fiber test"@en, "prueba de fibra óptica"@es, "essai de fibre optique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-P7DKV5VL-T skos:prefLabel "imagenología cuántica"@es, "quantum imaging"@en, "imagerie quantique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-V56X06LR-2 skos:prefLabel "boundary scan test"@en, "essai de balayage des limites"@fr, "ensayo de exploración de límite"@es ; a skos:Concept . rdr:-KMCJKFC0-2 skos:prefLabel "mesure de résistance thermique"@fr, "medida de resistencia térmica"@es, "thermal resistance measurement"@en ; a skos:Concept . rdr:-BQ88211K-Z skos:prefLabel "essai de tube électronique"@fr, "ensayo de transformador de potencia"@es, "electron tube test"@en ; a skos:Concept . rdr:-X4GFSL9J-9 skos:prefLabel "medida de intermodulación"@es, "intermodulation measurement"@en, "mesure d'intermodulation"@fr ; a skos:Concept . rdr:-QFFLFWDW-V skos:prefLabel "imagerie radar"@fr, "radar imaging"@en, "imagenología radar"@es ; a skos:Concept . rdr:-FZC2JW8D-V skos:prefLabel "medida de pulso"@es, "mesure d'impulsion"@fr, "pulse measurement"@en ; a skos:Concept . rdr:-MPHB14M6-V skos:prefLabel "mesure diélectrique"@fr, "medida dieléctrica"@es, "dielectric measurement"@en ; a skos:Concept . rdr:-XDKRM874-Z skos:prefLabel "medida de ruido"@es, "mesure de bruit"@fr, "noise measurement"@en ; a skos:Concept . rdr:-F1018X00-K skos:prefLabel "imagenología óptica en medio difuso"@es, "diffuse optical imaging"@en, "imagerie optique en milieu diffusant"@fr ; a skos:Concept . rdr:-ZPST03N5-P skos:prefLabel "mesure de tension électrique"@fr, "medición de voltaje"@es, "voltage measurement"@en ; a skos:Concept . rdr:-LFLGBSBX-D skos:prefLabel "electrical conductivity measurement"@en, "mesure de conductivité électrique"@fr, "medida de conductividad eléctrica"@es ; a skos:Concept . rdr:-QH7CB5GR-Z skos:prefLabel "medida de admitancia eléctrica"@es, "electric admittance measurement"@en, "mesure d'admittance électrique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-XVT6VDTP-4 skos:prefLabel "electric variables measurement"@en, "medida de variable eléctrica"@es, "mesure de grandeur électrique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-KKXR3C56-1 skos:prefLabel "analyse des modes couplés"@fr, "análisis de modos acoplados"@es, "coupled-mode analysis"@en ; a skos:Concept . rdr:-Q7TVCZT4-P skos:prefLabel "input-output analysis"@en, "análisis de entrada-salida"@es, "analyse d'entrée-sortie"@fr ; a skos:Concept . rdr:-TM8NDFTH-0 skos:prefLabel "symbolic analysis"@en, "analyse symbolique"@fr, "análisis simbolico"@es ; a skos:Concept . rdr:-Q90JXNGQ-8 skos:prefLabel "mesure de capacité électrique"@fr, "medida de capacitancia"@es, "capacitance measurement"@en ; a skos:Concept . rdr:-DB0SHHPS-2 skos:prefLabel "imagenología RX"@es, "X-ray imaging"@en, "imagerie RX"@fr ; a skos:Concept . rdr:-FZ46LMSC-W skos:prefLabel "electronic countermeasure"@en, "contra-medida electrónica"@es, "contre-mesure électronique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-DL843MJQ-T skos:prefLabel "essai de dispositif supraconducteur"@fr, "superconducting device test"@en, "ensayo de dispositivo superconductor"@es ; a skos:Concept . rdr:-VVW9QLF1-2 skos:prefLabel "life test"@en, "prueba de duración"@es, "essai d'endurance"@fr ; a skos:Concept . rdr:-HQ1CS4JZ-S skos:prefLabel "essai de circuit imprimé"@fr, "printed circuit test"@en, "ensayo de circuito imprimido"@es ; a skos:Concept . rdr:-KMDNJLFW-6 skos:prefLabel "medida de carga"@es, "mesure de charge"@fr, "charge measurement"@en ; a skos:Concept . rdr:-NJ1X3LL5-6 skos:prefLabel "medida por hiperfrecuancia"@es, "microwave measurement"@en, "mesure par hyperfréquence"@fr ; a skos:Concept . skos:member rdr:-XVT6VDTP-4, rdr:-PB8SQ320-3, rdr:-NBMDCMQR-Q, rdr:-RCKCP2T1-N, rdr:-LLS28NXT-0, rdr:-MPHB14M6-V, rdr:-XMHDNDRD-L, rdr:-F8WGGHZ2-5, rdr:-L202LB5K-P, rdr:-QFHP9NFL-7, rdr:-V56X06LR-2, rdr:-QXCMQJQ3-1, rdr:-VW4X6L6V-Q, rdr:-R9PH905Q-0, rdr:-L347NWZN-Z, rdr:-LXSFTKDV-W, rdr:-TH4KJ9BF-R, rdr:-FW0VPMKP-K, rdr:-XDKRM874-Z, rdr:-Q7TVCZT4-P, rdr:-DQ85RQZT-0, rdr:-PDM8F4SK-K, rdr:-RN9P4DQF-G, rdr:-K623MP15-H, rdr:-BRSW2Q2D-8, rdr:-PGV1L0KS-Q, rdr:-LFLGBSBX-D, rdr:-RWDCP627-8, rdr:-F9K0JVXJ-D, rdr:-NQL6RPN1-P, rdr:-QH7CB5GR-Z, rdr:-S31BHR0G-8, rdr:-PLFH69C8-P, rdr:-BQ88211K-Z, rdr:-TM8NDFTH-0, rdr:-CH5C3H83-H, rdr:-PB529R3J-6, rdr:-HGXKZTQB-4, rdr:-RFW8L98F-J, rdr:-KMDNJLFW-6, rdr:-M1CLJNQJ-8, rdr:-FZC2JW8D-V, rdr:-KMCJKFC0-2, rdr:-SWMSXS3S-8, rdr:-DC0SMPJS-T, rdr:-BBS3LWVM-B, rdr:-QW1HJPMF-D, rdr:-Q90JXNGQ-8, rdr:-J4CCNB0S-3, rdr:-K2FHQBQ5-4, rdr:-X4GFSL9J-9, rdr:-TPMXF4QG-P, rdr:-J5R5L3ZM-8, rdr:-DL843MJQ-T, rdr:-WGC02QDD-N, rdr:-F7PTZZ1L-0, rdr:-QFFLFWDW-V, rdr:-F1018X00-K, rdr:-LB503R2X-S, rdr:-ZFCBS33D-R, rdr:-KRWRPQ1L-S, rdr:-P7DKV5VL-T, rdr:-GNG9429H-K, rdr:-R1KJQ6QD-V, rdr:-N9DGSNTP-R, rdr:-KMV8BQH0-2, rdr:-BXLTXS9F-C, rdr:-B79GDCX8-F, rdr:-P9SZFH3N-R, rdr:-FZ46LMSC-W, rdr:-D4SP2Z97-Z, rdr:-M6WW8KPF-F, rdr:-HQ1CS4JZ-S, rdr:-BX66FV6V-9, rdr:-M846R7ZM-F, rdr:-CCJ84Q3Q-D, rdr:-JH8QXZP6-7, rdr:-DRWJ9GXT-8, rdr:-N8J22H3X-K, rdr:-GQ887VK0-4, rdr:-KKXR3C56-1, rdr:-XMKNWX35-P, rdr:-R8C0VT1D-5, rdr:-GTF47T9B-W, rdr:-V4C0ZXWQ-T, rdr:-DB0SHHPS-2, rdr:-JDJG8FVD-0, rdr:-BH1XJZ72-S, rdr:-SX19SDBX-5, rdr:-Q70Z91LT-M, rdr:-DKVXBQJ0-N, rdr:-VVW9QLF1-2, rdr:-P2MG5J8K-1, rdr:-NJ1X3LL5-6, rdr:-BL8X779W-X, rdr:-DSDJCLW0-2, rdr:-ZPST03N5-P ; a skos:Collection, isothes:ConceptGroup ; skos:prefLabel "Analysis / Measure"@en, "Analyse / Mesure"@fr ; rdfs:comment "Number of members: 97."@en, "Nombre de membres : 97."@fr ; isothes:superGroup ; skos:inScheme rdr: . rdr:-WGC02QDD-N skos:prefLabel "permittivity measurement"@en, "medida de permitividad"@es, "mesure de constante diélectrique"@fr ; a skos:Concept . rdr:-XMHDNDRD-L skos:prefLabel "integrated circuit test"@en, "ensayo de circuito integrado"@es, "essai de circuit intégré"@fr ; a skos:Concept . rdr:-R8C0VT1D-5 skos:prefLabel "microwave imaging"@en, "imagenología hiperfrecuencia"@es, "imagerie hyperfréquence"@fr ; a skos:Concept . rdr:-PDM8F4SK-K skos:prefLabel "semiconductor device test"@en, "essai de dispositif semiconducteur"@fr, "ensayo de dispositivo semiconductor"@es ; a skos:Concept . rdr:-S31BHR0G-8 skos:prefLabel "control de espesor"@es, "contrôle d'épaisseur"@fr, "thickness control"@en ; a skos:Concept . rdr:-QXCMQJQ3-1 skos:prefLabel "imagenología de onda milimétrica"@es, "imagerie par onde millimétrique"@fr, "millimeter wave imaging"@en ; a skos:Concept . rdr:-QW1HJPMF-D skos:prefLabel "medida de pérdida óptica"@es, "mesure de perte optique"@fr, "optical loss measurement"@en ; a skos:Concept . rdr:-P2MG5J8K-1 skos:prefLabel "essai d'endurance très accéléré"@fr, "prueba de resistencia muy accelerada"@es, "highly accelerated life test"@en ; a skos:Concept . rdr:-XMKNWX35-P skos:prefLabel "visual imagery"@en, "imagerie visuelle"@fr, "imagenología visual"@es ; a skos:Concept . rdr:-TH4KJ9BF-R skos:prefLabel "prueba de envejecimiento"@es, "essai de vieillissement"@fr, "aging test"@en ; a skos:Concept .