@prefix nht: . @prefix skos: . @prefix isothes: . @prefix rdfs: . nht:-C6DPQJNW-H skos:prefLabel "detección de positrón"@es, "positron detection"@en, "détection de positon"@fr ; a skos:Concept . nht:-LFXPHFPD-8 skos:prefLabel "réflectométrie optique temporelle"@fr, "reflectometría óptica en dominio de tiempo"@es, "optical time-domain reflectometry"@en ; a skos:Concept . nht:-VK59FFW5-3 skos:prefLabel "chemical variable control"@en, "contrôle de variable chimique"@fr, "control de variable química"@es ; a skos:Concept . nht:-VTS5TQ45-F skos:prefLabel "estudio de fase"@es, "étude de phase"@fr, "phase study"@en ; a skos:Concept . nht:-QM1S3CDZ-J skos:prefLabel "calibración"@es, "étalonnage"@fr, "calibration"@en ; a skos:Concept . nht:-JKW4B14B-C skos:prefLabel "control por contacto directo"@es, "direct contact control"@en, "contrôle par contact direct"@fr ; a skos:Concept . nht:-MW19RDJN-1 skos:prefLabel "método no destructivo"@es, "méthode non destructive"@fr, "non destructive method"@en ; a skos:Concept . nht:-HH2PRGLN-N skos:prefLabel "quantitative chemical analysis"@en, "análisis cuantitativo"@es, "analyse quantitative"@fr ; a skos:Concept . nht:-JL9S99DT-L skos:prefLabel "espectrometría de efecto túnel"@es, "scanning tunneling spectrometry"@en, "spectrométrie tunnel à balayage"@fr ; a skos:Concept . nht:-PXK0RV1P-4 skos:prefLabel "medición de ruido eléctrico"@es, "electric noise measurement"@en, "mesure de bruit électrique"@fr ; a skos:Concept . nht:-ZP1QCX47-M skos:prefLabel "espectroscopia micro-Raman"@es, "microspectrométrie Raman"@fr, "micro-Raman spectroscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-C45JFDF1-4 skos:prefLabel "técnica de vacío"@es, "vacuum technique"@en, "technique du vide"@fr ; a skos:Concept . nht:-G6J1VKW3-F skos:prefLabel "ensayo de flexión alternada"@es, "bending fatigue test"@en, "essai de flexion alternée"@fr ; a skos:Concept . nht:-JTLNC21M-6 skos:prefLabel "método estrioscópico"@es, "strioscopie"@fr, "Schlieren method"@en ; a skos:Concept . nht:-C970N438-M skos:prefLabel "espectrometría RPE"@es, "spectrométrie RPE"@fr, "EPR spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-RJJGNRQF-T skos:prefLabel "méthode de Brueckner"@fr, "Brueckner method"@en, "método de Brueckner"@es ; a skos:Concept . nht:-D3RKXJ5M-8 skos:prefLabel "espectrometría de correlación de fotones"@es, "spectrométrie de corrélation de photon"@fr, "photon correlation spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-C1LDNKWN-6 skos:prefLabel "difractometría"@es, "diffractométrie"@fr, "diffractometry"@en ; a skos:Concept . nht:-Z5DBHBWF-3 skos:prefLabel "análisis estructural"@es, "analyse structurale"@fr, "structural analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-F59XH0SL-9 skos:prefLabel "scanning-probe microscopy"@en, "microscopie de champ proche"@fr, "microscopía de barrido"@es ; a skos:Concept . nht:-BDT8LDS8-T skos:prefLabel "microscopie électronique à haute tension"@fr, "high voltage electron microscopy"@en, "microscopía electrónica de alta tensión"@es ; a skos:Concept . nht:-D952W6NR-8 skos:prefLabel "acoustic wave velocity measurement"@en, "medición de velocidad de las ondas acústicas"@es, "mesure de vitesse des ondes acoustiques"@fr ; a skos:Concept . nht:-FKW7WDHC-J skos:prefLabel "espectrometría ultravioleta"@es, "spectrométrie UV"@fr, "ultraviolet spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-MFQ660WN-4 skos:prefLabel "diffraction pattern analysis"@en, "analyse de diagramme de diffraction"@fr, "análisis de diagrama de difracción"@es ; a skos:Concept . nht:-TKST1PF1-C skos:prefLabel "espectrometría de masas de iones secundarios"@es, "SIMS"@en, "spectrométrie SIMS"@fr ; a skos:Concept . nht:-HXR4MLDT-F skos:prefLabel "pH measurement"@en, "medición de pH"@es, "mesure de pH"@fr ; a skos:Concept . nht:-PWPFQGLV-X skos:prefLabel "modulation spectrometry"@en, "spectrométrie à modulation"@fr, "espectrometría de modulación"@es ; a skos:Concept . nht:-V7B5PK6D-H skos:prefLabel "medición de variable térmica"@es, "mesure de grandeur thermique"@fr, "thermal variable measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-T75P5BFV-D skos:prefLabel "espectrometría acústica"@es, "spectrométrie acoustique"@fr, "acoustic spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-SQ2PZ1DX-K skos:prefLabel "análisis de circuito"@es, "analyse de circuit"@fr, "network analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-MX7XB0ZZ-3 skos:prefLabel "espectrometría alfa"@es, "spectrométrie alpha"@fr, "alpha spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-TH35F74W-H skos:prefLabel "pulse height analysis"@en, "analyse de hauteur d'impulsion"@fr, "análisis de la altura de pulso"@es ; a skos:Concept . nht:-N91CPS0L-X skos:prefLabel "holographie RX"@fr, "holografía de rayos X"@es, "X-ray holography"@en ; a skos:Concept . nht:-FXSJMP6T-8 skos:prefLabel "position measurement"@en, "mesure de position"@fr, "medición de posición"@es ; a skos:Concept . nht:-CZXF0L2F-C skos:prefLabel "ultrasonic materials test"@en, "essai de matériau par ultrasons"@fr, "ensayo de materiales por ultrasonidos"@es ; a skos:Concept . nht:-WLN68ZCH-L skos:prefLabel "microscopía electrónica de alta resolución"@es, "Microscopie électronique à haute résolution"@fr, "high resolution electron microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-VWS89PKZ-J skos:prefLabel "Rietveld method"@en, "méthode de Rietveld"@fr, "método de Rietveld"@es ; a skos:Concept . nht:-VK1TX1VZ-3 skos:prefLabel "detección alfa"@es, "alpha detection"@en, "détection alpha"@fr ; a skos:Concept . nht:-C3Z5453S-W skos:prefLabel "dielectric test"@en, "essai diélectrique"@fr, "prueba dieléctrica"@es ; a skos:Concept . nht:-X0FRHR9K-1 skos:prefLabel "espectrometría de desorción"@es, "desorption spectrometry"@en, "spectrométrie de désorption"@fr ; a skos:Concept . nht:-SMJDT292-G skos:prefLabel "espectrometría ultrasónica"@es, "spectrométrie ultrasonore"@fr, "ultrasonic spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-RBGSC1LK-S skos:prefLabel "neutron holography"@en, "holografía neutrónica"@es, "holographie neutronique"@fr ; a skos:Concept . nht:-FMWHMVRF-L skos:prefLabel "microanálisis iónico"@es, "microanalyse ionique"@fr, "ion microanalysis"@en ; a skos:Concept . nht:-M21LKSVR-3 skos:prefLabel "espectrometría de rayos X"@es, "X-ray spectrometry"@en, "spectrométrie RX"@fr ; a skos:Concept . nht:-JK7TKK62-V skos:prefLabel "medición de circuito integrado"@es, "integrated circuit measurement"@en, "mesure de circuit intégré"@fr ; a skos:Concept . nht:-PJS8C4ZM-P skos:prefLabel "essai de fluage"@fr, "creep test"@en, "ensayo de arrastre"@es ; a skos:Concept . nht:-VJMGBSXB-C skos:prefLabel "ensayo de choque"@es, "impact test"@en, "essai d'impact"@fr ; a skos:Concept . nht:-F925JF0F-M skos:prefLabel "internuclear double resonance"@en, "doble resonancia internuclear"@es, "double résonance internucléaire"@fr ; a skos:Concept . nht:-HRLWNXF4-G skos:prefLabel "ensayo de dureza"@es, "essai de dureté"@fr, "hardness test"@en ; a skos:Concept . nht:-T46GC755-9 skos:prefLabel "angle-resolved photoemission spectroscopy"@en, "spectroscopie photoélectronique résolue en angle"@fr, "espectroscopia de fotoemisión de ángulo resuelto"@es ; a skos:Concept . nht:-S8XSTWPZ-J skos:prefLabel "méthode de Laue"@fr, "método de Laue"@es, "Laue method"@en ; a skos:Concept . nht:-M499V649-V skos:prefLabel "dosimetría termoluminiscente"@es, "thermoluminescent dosimetry"@en, "dosimétrie de thermoluminescence"@fr ; a skos:Concept . nht:-Z56919VW-B skos:prefLabel "electrostatic force microscopy"@en, "microscopía de fuerza electrostática"@es, "microscopie à force électrostatique"@fr ; a skos:Concept . nht:-NJKMZRX1-6 skos:prefLabel "técnica óptica de alta velocidad"@es, "high-speed optical technique"@en, "technique optique à grande vitesse"@fr ; a skos:Concept . nht:-CX55RGB3-5 skos:prefLabel "mesure par ultrasons"@fr, "medición ultrasónica"@es, "ultrasonic measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-T9Z600LQ-6 skos:prefLabel "méthode ultrasonore"@fr, "ultrasonic method"@en, "método ultrasonoro"@es ; a skos:Concept . nht:-N60PGDQ8-V skos:prefLabel "ion scattering analysis"@en, "analyse par diffusion d'ions"@fr, "análisis de dispersión de iones"@es ; a skos:Concept . nht:-SCGD1MSB-R skos:prefLabel "espectrometría visible"@es, "spectrométrie visible"@fr, "visible spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-BC5WBRJB-T skos:prefLabel "graphic method"@en, "método gráfico"@es, "méthode graphique"@fr ; a skos:Concept . nht:-LWLTCQKD-X skos:prefLabel "absorción de rayos X cerca de la estructura de borde"@es, "structure près du front d'absorption de rayons X"@fr, "XANES"@en ; a skos:Concept . nht:-F84R7MRV-P skos:prefLabel "método óptico"@es, "méthode optique"@fr, "optical method"@en ; a skos:Concept . nht:-HTH63PF2-Q skos:prefLabel "spectrométrie de photoélectrons"@fr, "espectrometría de fotoelectrones"@es, "photoelectron spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-L0NL9SSG-M skos:prefLabel "espectrometría de emisión"@es, "spectrométrie d'émission"@fr, "emission spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-Q8C27J5Z-W skos:prefLabel "mesure acoustique"@fr, "medición acústica"@es, "acoustic measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-JNM78155-Q skos:prefLabel "secuencia DEPT"@es, "séquence DEPT"@fr, "DEPT sequence"@en ; a skos:Concept . nht:-WD06PQCJ-7 skos:prefLabel "medición eléctrica"@es, "mesure électrique"@fr, "electrical measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-LFQNDQ8D-S skos:prefLabel "microscopía de fuerza magnética"@es, "microscopie à force magnétique"@fr, "magnetic force microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-WZ9R34VC-3 skos:prefLabel "spectrométrie UV-visible"@fr, "espectrometría UV-visible"@es, "ultraviolet visible spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-C9NR98D8-2 skos:prefLabel "medición de caudal"@es, "mesure de débit d'écoulement"@fr, "flow measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-FLVBBSBJ-M skos:prefLabel "medición de atenuación"@es, "attenuation measurement"@en, "mesure d'atténuation"@fr ; a skos:Concept . nht:-GB9PXCV5-3 skos:prefLabel "electric variable measurement"@en, "medición de variable eléctrica"@es, "mesure de grandeur électrique"@fr ; a skos:Concept . nht:-CF5ZLMVP-2 skos:prefLabel "medición de ángulo"@es, "angle measurement"@en, "mesure d'angle"@fr ; a skos:Concept . nht:-MWW51PTM-2 skos:prefLabel "ensayo térmico"@es, "essai thermique"@fr, "thermal test"@en ; a skos:Concept . nht:-ZHLF6MKM-B skos:prefLabel "medición de inductancia"@es, "mesure d'inductance"@fr, "inductance measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-CQQ9QBZT-B skos:prefLabel "méthode Xalpha"@fr, "Xalpha method"@en, "método Xalfa"@es ; a skos:Concept . nht:-KMQ50WFL-X skos:prefLabel "microanálisis"@es, "microanalyse"@fr, "microanalysis"@en ; a skos:Concept . nht:-BW35S2FK-2 skos:prefLabel "affinement de Rietveld"@fr, "Rietveld refinement"@en, "refinamiento de Rietveld"@es ; a skos:Concept . nht:-DTQX8H9S-T skos:prefLabel "diagramme de phase"@fr, "diagrama de fase"@es, "phase diagram"@en ; a skos:Concept . nht:-Z19HR83D-8 skos:prefLabel "thin-layer chromatography"@en, "cromatografía en capa fina"@es, "chromatographie sur couche mince"@fr ; a skos:Concept . nht:-P9JJGBWB-B skos:prefLabel "espectrometría de absorción de infrarrojos"@es, "spectrométrie d'absorption IR"@fr, "infrared absorption spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-WR1M2L46-J skos:prefLabel "medición de resistencia térmica"@es, "mesure de résistance thermique"@fr, "thermal resistance measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-R0BR790M-V skos:prefLabel "espectrometría del IR lejano"@es, "spectrométrie dans l'IR lointain"@fr, "far-infrared spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-F3CKHBB0-T skos:prefLabel "phase measurement"@en, "medición de fase"@es, "mesure de phase"@fr ; a skos:Concept . nht:-H5SLNP0R-9 skos:prefLabel "ultramicroscopia"@es, "ultramicroscopie"@fr, "ultramicroscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-XJDQK64H-3 skos:prefLabel "espectrometría ENDOR"@es, "spectrométrie ENDOR"@fr, "ENDOR spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-CWZP132H-3 skos:prefLabel "optical variable measurement"@en, "mesure de grandeur optique"@fr, "medición de variable óptica"@es ; a skos:Concept . nht:-T06CGZCJ-V skos:prefLabel "microscopie électronique en réflexion"@fr, "microscopía electrónica de reflexión"@es, "reflection electron microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-QB78T69M-P skos:prefLabel "alpha-particle spectrometry"@en, "espectrometría de partícula alfa"@es, "spectrométrie de particule alpha"@fr ; a skos:Concept . nht:-B3ZXPMX7-V skos:prefLabel "ajuste no lineal"@es, "ajustement non linéaire"@fr, "non-linear fitting"@en ; a skos:Concept . nht:-W3657068-2 skos:prefLabel "detección de defectos estructurales"@es, "flaw detection"@en, "détection de défaut de structure"@fr ; a skos:Concept . nht:-PBTWH93C-D skos:prefLabel "espectrometría de absorción dieléctrica"@es, "spectrométrie d'absorption diélectrique"@fr, "dielectric absorption spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-ZWZZ85M7-5 skos:prefLabel "area measurement"@en, "medición de área"@es, "mesure d'aire"@fr ; a skos:Concept . nht:-BDD7WJPS-8 skos:prefLabel "supervisión de proceso"@es, "process monitoring"@en, "contrôle de processus"@fr ; a skos:Concept . nht:-GVT0NJDX-H skos:prefLabel "método potenciodinámico"@es, "méthode potentiodynamique"@fr, "potentiodynamic method"@en ; a skos:Concept . nht:-PXW2KXR7-6 skos:prefLabel "microscopía estereoscópica"@es, "microscopie stéréoscopique"@fr, "stereoscopic microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-PTLP9B42-X skos:prefLabel "espectrometría mcd"@es, "spectrométrie MCD"@fr, "magnetic circular dichroism spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-DPQSQKVG-2 skos:prefLabel "método de la gota sésil"@es, "méthode de la goutte sessile"@fr, "sessile drop method"@en ; a skos:Concept . nht:-ZMML6TF2-3 skos:prefLabel "optical test"@en, "essai optique"@fr, "ensayo óptico"@es ; a skos:Concept . nht:-P080KXNR-Q skos:prefLabel "microscopía de contraste de fase"@es, "microscopie à contraste de phase"@fr, "phase-contrast microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-CBRHHSKL-D skos:prefLabel "espectroscopia de masas de tiempo de vuelo"@es, "time-of-flight mass spectroscopy"@en, "spectrométrie de masse à temps de vol"@fr ; a skos:Concept . nht:-G2Q560FX-Z skos:prefLabel "microscopia de fuerza lateral"@es, "microscopie à force latérale"@fr, "lateral force microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-CGPT4S0H-6 skos:prefLabel "projection stéréographique"@fr, "stereographic projection"@en, "proyección estereográfica"@es ; a skos:Concept . nht:-ZSJ8PKHJ-W skos:prefLabel "heteronuclear double resonance"@en, "double résonance hétéronucléaire"@fr, "doble resonancia heteronuclear"@es ; a skos:Concept . nht:-JMXTBJCV-9 skos:prefLabel "spectrométrie de résonance magnétique"@fr, "espectrometría de resonancia magnética"@es, "magnetic resonance spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-VDBSZ7JT-H skos:prefLabel "shadow method"@en, "método de sombra"@es, "méthode de l'ombre"@fr ; a skos:Concept . nht:-L8DZZ6XC-P skos:prefLabel "capacitive method"@en, "méthode capacitive"@fr, "método capacitivo"@es ; a skos:Concept . nht:-L2QM01X3-0 skos:prefLabel "espectrometría"@es, "spectrométrie"@fr, "spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-V6X8QLZD-C skos:prefLabel "cromatografía"@es, "chromatographie"@fr, "chromatography"@en ; a skos:Concept . nht:-F8DNS0BB-T skos:prefLabel "interférométrie de neutron"@fr, "interferometría de neutrones"@es, "neutron interferometry"@en ; a skos:Concept . nht:-PC76CR81-H skos:prefLabel "relaxation test"@en, "ensayo de relajación"@es, "essai de relaxation"@fr ; a skos:Concept . nht:-C6N9BC9W-4 skos:prefLabel "essai de résilience"@fr, "notched-bar impact test"@en, "ensayo de resiliencia"@es ; a skos:Concept . nht:-VS505VZ9-5 skos:prefLabel "medición de conductividad eléctrica"@es, "electrical conductivity measurement"@en, "mesure de conductivité électrique"@fr ; a skos:Concept . nht:-KDKW75H5-N skos:prefLabel "resonancia magnética de haz atómico"@es, "ABMR"@en, "résonance magnétique sur jet atomique"@fr ; a skos:Concept . nht:-MJ7T1DBK-5 skos:prefLabel "evaluación de rendimiento"@es, "évaluation de performance"@fr, "performance evaluation"@en ; a skos:Concept . nht:-NBZLS8TK-L skos:prefLabel "análisis de activación fotónica"@es, "analyse par activation photonique"@fr, "photon activation analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-W31PQJHT-1 skos:prefLabel "heterodyne detection"@en, "detección heterodina"@es, "détection hétérodyne"@fr ; a skos:Concept . nht:-FBN9838C-1 skos:prefLabel "análisis termodinámico"@es, "analyse thermodynamique"@fr, "thermodynamic analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-B2QGVCDK-D skos:prefLabel "adhesion test"@en, "ensayo de adherencia"@es, "essai d'adhérence"@fr ; a skos:Concept . nht:-VS5MRP3H-7 skos:prefLabel "cristalografía geométrica"@es, "cristallographie géométrique"@fr, "geometrical crystallography"@en ; a skos:Concept . nht:-ZX8GBW82-Z skos:prefLabel "radiografía de rayos X"@es, "X-ray radiography"@en, "radiographie RX"@fr ; a skos:Concept . nht:-XP3MFF43-N skos:prefLabel "contrôle dimensionnel"@fr, "control dimensional"@es, "dimensional control"@en ; a skos:Concept . nht:-D2Q43VM2-X skos:prefLabel "medición de energía superficial"@es, "mesure d'énergie de surface"@fr, "surface energy measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-ZQM8G1RF-R skos:prefLabel "análisis calorimétrico diferencial de barrido"@es, "differential scanning calorimetry"@en, "calorimétrie différentielle à balayage"@fr ; a skos:Concept . nht:-KP8NC7M8-7 skos:prefLabel "calorimetría de barrido"@es, "calorimétrie à balayage"@fr, "scanning calorimetry"@en ; a skos:Concept . nht:-WDK7WSKK-4 skos:prefLabel "microscopía iónica de emisión de campo"@es, "microscopie ionique à émission de champ"@fr, "field ion microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-TD1CGJDP-4 skos:prefLabel "crioscopia"@es, "cryoscopy"@en, "cryoscopie"@fr ; a skos:Concept . nht:-JF8KST8B-0 skos:prefLabel "ultrasonografía"@es, "exploration par ultrasons"@fr, "ultrasonography"@en ; a skos:Concept . nht:-D3QGZPZF-X skos:prefLabel "medición de velocidad"@es, "velocity measurement"@en, "mesure de vitesse"@fr ; a skos:Concept . nht:-N3TWHL3L-K skos:prefLabel "medición por rayo láser"@es, "mesure par faisceau laser"@fr, "measurement by laser beam"@en ; a skos:Concept . nht:-SJN74JQP-D skos:prefLabel "nonlinear network analysis"@en, "analyse de réseau non linéaire"@fr, "análisis de red no lineal"@es ; a skos:Concept . nht:-S5TVWRH3-H skos:prefLabel "analyse énergétique"@fr, "análisis energético"@es, "energy analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-WKN28X2D-W skos:prefLabel "microscopía de fuerza de fricción"@es, "microscopie à force de frottement"@fr, "friction force microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-MHXN327R-R skos:prefLabel "essai de Charpy"@fr, "Charpy test"@en, "ensayo de Charpy"@es ; a skos:Concept . nht:-V2JNXC8T-N skos:prefLabel "topografía de rayos X"@es, "X-ray topography"@en, "topographie RX"@fr ; a skos:Concept . nht:-BJ94G28X-W skos:prefLabel "espectrometría de impedancia electroquímica"@es, "spectroscopie d'impédance électrochimique"@fr, "electrochemical impedance spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-TDKK2G4H-N skos:prefLabel "método de la gota colocada"@es, "méthode de la goutte posée"@fr, "rest drop method"@en ; a skos:Concept . nht:-P86PKPDL-8 skos:prefLabel "método de difracción"@es, "diffraction method"@en, "méthode de diffraction"@fr ; a skos:Concept . nht:-RWH07DGH-W skos:prefLabel "mesure en ondes millimétriques"@fr, "medición por ondas milimétricas"@es, "millimeter wave measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-D4SD8W57-F skos:prefLabel "electron density map"@en, "diagrama de densidad electrónica"@es, "diagramme de densité électronique"@fr ; a skos:Concept . nht:-BDC00XR2-Q skos:prefLabel "metalografía cuantitativa"@es, "quantitative metallography"@en, "métallographie quantitative"@fr ; a skos:Concept . nht:-RP8BCDNZ-X skos:prefLabel "espectrometría capacitiva"@es, "spectrométrie capacitive"@fr, "capacitive spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-JB068423-D skos:prefLabel "spectrométrie d'onde millimétrique"@fr, "espectrometría de onda milimétrica"@es, "millimeter wave spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-WHQP8KKS-0 skos:prefLabel "volume measurement"@en, "medición de volumen"@es, "mesure de volume"@fr ; a skos:Concept . nht:-CBC39ZN8-M skos:prefLabel "espectrometría de absorción atómica"@es, "spectrométrie d'absorption atomique"@fr, "atomic absorption spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-F8KL1BNB-K skos:prefLabel "deformation test"@en, "ensayo de deformación"@es, "essai de déformation"@fr ; a skos:Concept . nht:-B519HB3X-M skos:prefLabel "spectrométrie de transitoire de niveau profond"@fr, "espectrometría de transitorio de nivel profundo"@es, "deep level transient spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-T1G60WHL-S skos:prefLabel "microscopía óptica de barrido"@es, "microscopie optique à balayage"@fr, "scanning light microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-FJR59LT3-6 skos:prefLabel "saturation spectrometry"@en, "espectrometría de saturación"@es, "spectrométrie de saturation"@fr ; a skos:Concept . nht:-HGXR9P8G-L skos:prefLabel "méthode de Schulz"@fr, "Schulz method"@en, "método de Schulz"@es ; a skos:Concept . nht:-QJN59N4H-W skos:prefLabel "surface metrology"@en, "metrología de superficie"@es, "métrologie de surface"@fr ; a skos:Concept . nht:-RGQHJPSQ-7 skos:prefLabel "método del haz convergente"@es, "méthode du faisceau convergent"@fr, "convergent beam method"@en ; a skos:Concept . nht:-JVC0GN0N-1 skos:prefLabel "interferometría de ondas acústicas"@es, "acoustic wave interferometry"@en, "interférométrie d'onde acoustique"@fr ; a skos:Concept . nht:-THWQGCJ6-B skos:prefLabel "micrométrie"@fr, "micrometry"@en, "micrometría"@es ; a skos:Concept . nht:-HQ2VVMR9-J skos:prefLabel "essai de Charpy avec entaille en U"@fr, "ensayo de Charpy con muesca en U"@es, "U notch impact test"@en ; a skos:Concept . nht:-CC6N74Q7-B skos:prefLabel "técnica de coincidencia"@es, "technique de coïncidence"@fr, "coincidence technique"@en ; a skos:Concept . nht:-P37BV1CL-T skos:prefLabel "diagramme de monocristal"@fr, "single crystal diagram"@en, "diagrama monocristalino"@es ; a skos:Concept . nht:-M53MHC8J-M skos:prefLabel "essai de traction"@fr, "ensayo de tracción"@es, "tension test"@en ; a skos:Concept . nht:-TFGXJ63J-N skos:prefLabel "espectrometría de retrodispersión Rutherford"@es, "spectrométrie de rétrodiffusion de Rutherford"@fr, "RBS"@en ; a skos:Concept . nht:-BTSJMB7X-S skos:prefLabel "ensayo de oxidación"@es, "oxidation test"@en, "essai d'oxydation"@fr ; a skos:Concept . nht:-GGFR1CSW-X skos:prefLabel "espectrometría de rayos gama"@es, "gamma-ray spectrometry"@en, "spectrométrie de rayonnement gamma"@fr ; a skos:Concept . nht:-WMTW45VC-X skos:prefLabel "control de calidad"@es, "contrôle de qualité"@fr, "quality control"@en ; a skos:Concept . nht:-DSC0K9QM-X skos:prefLabel "método transitorio"@es, "méthode transitoire"@fr, "transient method"@en ; a skos:Concept . nht:-V6TR8ZSM-M skos:prefLabel "nuclear reaction analysis"@en, "análisis de reacción nuclear"@es, "analyse de réaction nucléaire"@fr ; a skos:Concept . nht:-BH79JP4S-F skos:prefLabel "microscopía túnel óptica"@es, "photon scanning tunneling microscopy"@en, "microscopie tunnel optique"@fr ; a skos:Concept . nht:-WLJ8V4LP-P skos:prefLabel "medición de tensión superficial"@es, "surface tension measurement"@en, "mesure de tension superficielle"@fr ; a skos:Concept . nht:-NS1KQ6Q2-5 skos:prefLabel "analyse par sonde électronique"@fr, "electron probe analysis"@en, "análisis con sonda electrónica"@es ; a skos:Concept . nht:-VQZ25PWQ-P skos:prefLabel "mesure de pression"@fr, "pressure measurement"@en, "medición de presión"@es ; a skos:Concept . nht:-Z7RQ5R3M-V skos:prefLabel "método de Bjerrum"@es, "méthode de Bjerrum"@fr, "Bjerrum method"@en ; a skos:Concept . nht:-R5HF0B0K-V skos:prefLabel "computer-aided analysis"@en, "análisis asistido"@es, "analyse assistée"@fr ; a skos:Concept . nht:-M8512JW2-5 skos:prefLabel "holografía de Fresnel"@es, "holographie de Fresnel"@fr, "Fresnel holography"@en ; a skos:Concept . nht:-SW6936LL-3 skos:prefLabel "ensayo destructivo"@es, "essai destructif"@fr, "destructive test"@en ; a skos:Concept . nht:-CLRM580L-M skos:prefLabel "ensayo magnético"@es, "magnetic test"@en, "essai magnétique"@fr ; a skos:Concept . nht:-Q19X088H-W skos:prefLabel "mesure en UHF"@fr, "UHF measurement"@en, "medición UHF"@es ; a skos:Concept . nht:-R04JF5P4-F skos:prefLabel "destructive analysis"@en, "analyse destructive"@fr, "análisis destructivo"@es ; a skos:Concept . nht:-R0FMQR6L-2 skos:prefLabel "mesure magnétique"@fr, "magnetic measurement"@en, "medida magnética"@es ; a skos:Concept . nht:-VK76BR7G-4 skos:prefLabel "analyse en domaine spectral"@fr, "análisis en el dominio espectral"@es, "spectral-domain analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-TVVVBCRW-2 skos:prefLabel "essai de dureté par rayage"@fr, "scratch hardness test"@en, "ensayo de dureza al rayado"@es ; a skos:Concept . nht:-L9SDXWL3-8 skos:prefLabel "radioscopy"@en, "radioscopía"@es, "radioscopie"@fr ; a skos:Concept . nht:-Z6N9CRDR-X skos:prefLabel "medición de permitividad"@es, "permittivity measurement"@en, "mesure de constante diélectrique"@fr ; a skos:Concept . nht:-QZR8402R-9 skos:prefLabel "medición de variable láser"@es, "laser variable measurement"@en, "mesure de paramètre laser"@fr ; a skos:Concept . nht:-RXQC25CT-V skos:prefLabel "espectrometría de difusión"@es, "spectrométrie de diffusion"@fr, "scattering spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-QF4LGH1F-F skos:prefLabel "essai de corrosion"@fr, "ensayo de corrosión"@es, "corrosion test"@en ; a skos:Concept . nht:-RCVH3G27-Q skos:prefLabel "medición de capacitancia"@es, "mesure de capacité électrique"@fr, "capacitance measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-HBGC8D8M-P skos:prefLabel "espectrometría de dos fotones"@es, "spectrométrie à 2 photons"@fr, "two-photon spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-KH702CDC-J skos:prefLabel "microscopía acústica"@es, "acoustic microscopy"@en, "microscopie acoustique"@fr ; a skos:Concept . nht:-WR6XN4RH-8 skos:prefLabel "medición de resistencia eléctrica"@es, "mesure de résistance électrique"@fr, "electric resistance measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-RP5L4WST-D skos:prefLabel "vapor pressure measurement"@en, "mesure de pression de vapeur"@fr, "medición de presión de vapor"@es ; a skos:Concept . nht:-H4LMQ3K5-N skos:prefLabel "essai de Rockwell"@fr, "Rockwell test"@en, "ensayo de dureza de Rockwell"@es ; a skos:Concept . nht:-XQFZC8TJ-3 skos:prefLabel "electron detection"@en, "détection d'électrons"@fr, "detección de electrones"@es ; a skos:Concept . nht:-KL431GJ7-4 skos:prefLabel "espectrometría de bomba-sonda"@es, "pump-probe spectrometry"@en, "spectrométrie pompe-sonde"@fr ; a skos:Concept . nht:-JQGW7Z5H-4 skos:prefLabel "medición de torsión"@es, "torque measurement"@en, "mesure de couple mécanique"@fr ; a skos:Concept . nht:-S2DWKCKK-8 skos:prefLabel "mesure de charge électrique"@fr, "medición de carga"@es, "charge measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-L4S0WGRR-2 skos:prefLabel "cristallographie par diffraction de neutrons"@fr, "neutron-diffraction crystallography"@en, "cristalografía por difracción de neutrones"@es ; a skos:Concept . nht:-Q90RG8DT-S skos:prefLabel "microscopía"@es, "microscopie"@fr, "microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-FZWGLD5X-Z skos:prefLabel "microscopie électronique analytique"@fr, "analytical electron microscopy"@en, "microscopía electrónica analítica"@es ; a skos:Concept . nht:-RGDTJNLV-1 skos:prefLabel "mechanical variable measurement"@en, "medición de variable mecánica"@es, "mesure de grandeur mécanique"@fr ; a skos:Concept . nht:-BZ0XQKQZ-X skos:prefLabel "espectrometría EXAFS"@es, "spectrométrie EXAFS"@fr, "EXAFS spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-NMT0FC08-X skos:prefLabel "powder pattern"@en, "diagrama de polvo"@es, "diagramme de poudre"@fr ; a skos:Concept . nht:-DKND5K3D-8 skos:prefLabel "espectrometría de neutrones"@es, "neutron spectrometry"@en, "spectrométrie de neutrons"@fr ; a skos:Concept . nht:-PRS02XR6-J skos:prefLabel "acoustic intensity measurement"@en, "medición de intensidad acústica"@es, "mesure d'intensité acoustique"@fr ; a skos:Concept . nht:-JB7WH6Z4-1 skos:prefLabel "ajuste"@es, "fitting"@en, "ajustement"@fr ; a skos:Concept . nht:-PKXG164K-B skos:prefLabel "spectrométrie de perte d'énergie des électrons"@fr, "espectrometría de pérdida de energía de electrones"@es, "EEL spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-FCTXHN3S-0 skos:prefLabel "análisis de activación neutrónica"@es, "analyse par activation neutronique"@fr, "neutron activation analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-Q7G478L3-W skos:prefLabel "analyse à rayons X"@fr, "análisis de rayos X"@es, "X-ray analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-Regroupement_par_type_sémantique skos:prefLabel "Regroupement par type sémantique"@fr, "Grouping by semantic type"@en ; a isothes:ConceptGroup, skos:Collection ; isothes:subGroup nht:-Analyse__Mesure . nht:-WXTJP9KL-G skos:prefLabel "neutral-particle spectrometry"@en, "espectrometría de partícula neutra"@es, "spectrométrie de particule neutre"@fr ; a skos:Concept . nht:-R1P778QM-T skos:prefLabel "espectrometría de absorción"@es, "absorption spectrometry"@en, "spectrométrie d'absorption"@fr ; a skos:Concept . nht:-N5QGG88D-2 skos:prefLabel "ensayo de tenacidad a la fractura"@es, "fracture toughness test"@en, "essai de ténacité"@fr ; a skos:Concept . nht:-XX6ZMVWV-V skos:prefLabel "control del espesor"@es, "contrôle d'épaisseur"@fr, "thickness control"@en ; a skos:Concept . nht:-HSXNTD5W-H skos:prefLabel "método de Kossel"@es, "méthode de Kossel"@fr, "Kossel method"@en ; a skos:Concept . nht:-T56DM6K0-P skos:prefLabel "ensayo por haz de electrones"@es, "electron beam testing"@en, "essai de faisceau électronique"@fr ; a skos:Concept . nht:-GFRH27FQ-8 skos:prefLabel "interférométrie holographique"@fr, "holographic interferometry"@en, "interferometría holográfica"@es ; a skos:Concept . nht:-JX5JL7BK-9 skos:prefLabel "cristalografía por difracción de electrones"@es, "cristallographie par diffraction d'électrons"@fr, "electron-diffraction crystallography"@en ; a skos:Concept . nht:-PGH39QVC-F skos:prefLabel "microscopía de fluorescencia"@es, "microscopie à fluorescence"@fr, "fluorescence microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-JRGJ5GXN-3 skos:prefLabel "espectrometría RQN"@es, "spectrométrie RQN"@fr, "NQR spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-SZ4JJ4Q9-8 skos:prefLabel "análisis calorimétrico diferencial"@es, "calorimétrie différentielle"@fr, "differential calorimetry"@en ; a skos:Concept . nht:-WJSLXXRT-2 skos:prefLabel "analyse en domaine temporel"@fr, "time-domain analysis"@en, "análisis en el dominio temporal"@es ; a skos:Concept . nht:-FKLT3RT2-5 skos:prefLabel "medición de admitancia eléctrica"@es, "electric admittance measurement"@en, "mesure d'admittance électrique"@fr ; a skos:Concept . nht:-S7TGFD40-4 skos:prefLabel "método de la gota colgante"@es, "méthode de la goutte pendante"@fr, "hanging drop method"@en ; a skos:Concept . nht:-D87BMZGH-6 skos:prefLabel "nondestructive analysis"@en, "analyse non destructive"@fr, "análisis no destructivo"@es ; a skos:Concept . nht:-CH4GQ540-7 skos:prefLabel "microscopie à force atomique"@fr, "microscopía de fuerza atómica"@es, "atomic force microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-MQ3KKMSW-3 skos:prefLabel "multi-element analysis"@en, "análisis multielemento"@es, "analyse multiéléments"@fr ; a skos:Concept . nht:-QMJTH3LS-M skos:prefLabel "microscopía óptica"@es, "microscopie optique"@fr, "optical microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-QVNSH6XH-W skos:prefLabel "imagerie IR"@fr, "imaginería infrarroja"@es, "infrared imaging"@en ; a skos:Concept . nht:-PH5Q45G8-6 skos:prefLabel "interferometría de rayos X"@es, "X-ray interferometry"@en, "interférométrie RX"@fr ; a skos:Concept . nht:-SM7K30D4-D skos:prefLabel "espectrometría de fluorescencia"@es, "spectrométrie de fluorescence"@fr, "fluorescence spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-SQJXMV46-H skos:prefLabel "análisis electroquímico"@es, "analyse électrochimique"@fr, "electrochemical analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-D7SJS2MM-9 skos:prefLabel "mesure en hyperfréquences"@fr, "medición por microondas"@es, "microwave measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-NGDJ26T8-F skos:prefLabel "medición de campo eléctrico"@es, "electric field measurement"@en, "mesure de champ électrique"@fr ; a skos:Concept . nht:-TP5WKH25-Z skos:prefLabel "ensayo de tensión en probeta compacta"@es, "compact tension test"@en, "essai avec éprouvette compacte"@fr ; a skos:Concept . nht:-FN29H41T-C skos:prefLabel "espectrometría de reflexión"@es, "spectrométrie de réflexion"@fr, "reflection spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-M5R9WZKZ-G skos:prefLabel "método de análisis"@es, "méthode d'analyse"@fr, "analysis method"@en ; a skos:Concept . nht:-TJXTH929-6 skos:prefLabel "diagrama de Nyquist"@es, "diagramme de Nyquist"@fr, "Nyquist diagram"@en ; a skos:Concept . nht:-G4C9L8Q3-K skos:prefLabel "normal coordinate analysis"@en, "análisis en coordenadas normales"@es, "analyse en coordonnées normales"@fr ; a skos:Concept . nht:-DG22597C-0 skos:prefLabel "essai dynamique"@fr, "dynamic test"@en, "ensayo dinámico"@es ; a skos:Concept . nht:-VLPHSZX8-M skos:prefLabel "método de medida"@es, "méthode de mesure"@fr, "measurement method"@en ; a skos:Concept . nht:-D1N67H2F-C skos:prefLabel "photomicrographie"@fr, "photomicrography"@en, "fotomicrografía"@es ; a skos:Concept . nht:-LGMTVQC5-D skos:prefLabel "ensayo mecánico"@es, "essai mécanique"@fr, "mechanical test"@en ; a skos:Concept . nht:-BV4TTJVX-P skos:prefLabel "mesure d'angle de perte"@fr, "loss-angle measurement"@en, "medición de ángulo de pérdida"@es ; a skos:Concept . nht:-T5ZSXHT4-T skos:prefLabel "análisis de activación"@es, "analyse par activation"@fr, "activation analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-J5HRV982-Z skos:prefLabel "pyromètre optique"@fr, "pirómetro óptico"@es, "optical pyrometer"@en ; a skos:Concept . nht:-ZVFNQXBC-6 skos:prefLabel "méthode de Weissenberg"@fr, "Weissenberg method"@en, "método de Weissenberg"@es ; a skos:Concept . nht:-GC45ZGW3-0 skos:prefLabel "metalografía"@es, "métallographie"@fr, "metallography"@en ; a skos:Concept . nht:-VFLP2PDC-L skos:prefLabel "spectrométrie baryonique"@fr, "espectrometría de bariones"@es, "baryon spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-RQ6G7MJW-L skos:prefLabel "medición simultánea"@es, "mesure simultanée"@fr, "simultaneous measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-HPGLHHXL-J skos:prefLabel "espectrometría de aislamiento de matriz"@es, "spectrométrie par isolement en matrice"@fr, "matrix-isolation spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-WR3CQ0Q3-S skos:prefLabel "ensayo de fatiga"@es, "essai de fatigue"@fr, "fatigue test"@en ; a skos:Concept . nht:-RR7H26TJ-M skos:prefLabel "espectrometría interferencial"@es, "interference spectrometry"@en, "spectrométrie interférentielle"@fr ; a skos:Concept . nht:-V28ND1QP-D skos:prefLabel "medición de fuerza"@es, "force measurement"@en, "mesure de force"@fr ; a skos:Concept . nht:-RSXD2Q7B-S skos:prefLabel "método ERDA"@es, "elastic recoil detection analysis method"@en, "méthode ERDA"@fr ; a skos:Concept . nht:-S5VVZCSL-M skos:prefLabel "microscopie électronique à emission secondaire"@fr, "secondary electron microscopy"@en, "microscopía electrónica secundaria"@es ; a skos:Concept . nht:-TM98ZJC2-6 skos:prefLabel "análisis gravimétrico"@es, "analyse gravimétrique"@fr, "gravimetric analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-VTCD090X-H skos:prefLabel "ensayo de Brinell"@es, "Brinell test"@en, "essai de Brinell"@fr ; a skos:Concept . nht:-FTSPSPT0-B skos:prefLabel "análisis conformacional"@es, "analyse conformationnelle"@fr, "conformational analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-QCXTTF89-M skos:prefLabel "mesure de dimension particule"@fr, "medición del tamaño de partícula"@es, "particle size measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-JFJ5BSLW-J skos:prefLabel "spectrométrie de photoémission inverse"@fr, "espectrometría de fotoemisión inversa"@es, "inverse photoemission spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-KF3JC85R-L skos:prefLabel "dosimétrie RX"@fr, "dosimetría de rayos x"@es, "x-ray dosimetry"@en ; a skos:Concept . nht:-FH3LHL51-N skos:prefLabel "méthode d'oscillation"@fr, "método de oscilación"@es, "oscillation method"@en ; a skos:Concept . nht:-D0DGMPKK-B skos:prefLabel "fractography"@en, "fractografía"@es, "fractographie"@fr ; a skos:Concept . nht:-WJF086PW-W skos:prefLabel "technique de neutron pulsé"@fr, "pulsed neutron technique"@en, "técnica de neutrón pulsado"@es ; a skos:Concept . nht:-Z8TWNKXJ-4 skos:prefLabel "medición de pérdida óptica"@es, "mesure de perte optique"@fr, "optical loss measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-M2H0P2TR-4 skos:prefLabel "analisis por microsonda electronica"@es, "analyse par microsonde électronique"@fr, "electron microprobe analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-FQML4H1G-T skos:prefLabel "espectrometría Raman"@es, "spectrométrie Raman"@fr, "Raman spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-WVWM1GJK-3 skos:prefLabel "nondestructive test"@en, "essai non destructif"@fr, "ensayo no destructivo"@es ; a skos:Concept . nht:-Analyse__Mesure skos:member nht:-FQML4H1G-T, nht:-F925JF0F-M, nht:-X1242581-6, nht:-NZM8TL46-V, nht:-SSLK1CPV-N, nht:-JVC0GN0N-1, nht:-HPGLHHXL-J, nht:-RCR94T2P-Q, nht:-XGVTHQ1N-8, nht:-H278T2NB-9, nht:-D4RMBRXP-W, nht:-CBC39ZN8-M, nht:-JFJ5BSLW-J, nht:-CZXF0L2F-C, nht:-BZ0XQKQZ-X, nht:-W1D44BVK-Z, nht:-GVT0NJDX-H, nht:-LM70NHPB-G, nht:-ZQM8G1RF-R, nht:-HK5S5PG3-F, nht:-SQ2PZ1DX-K, nht:-SCGD1MSB-R, nht:-ZHLF6MKM-B, nht:-VTCD090X-H, nht:-CWZP132H-3, nht:-JB068423-D, nht:-D952W6NR-8, nht:-H00JJ68D-K, nht:-S7TGFD40-4, nht:-C8L523QF-W, nht:-MPXKH7FD-7, nht:-FJR59LT3-6, nht:-TM98ZJC2-6, nht:-WR3CQ0Q3-S, nht:-K7T8159D-2, nht:-M8512JW2-5, nht:-JKW4B14B-C, nht:-Z9JM0D8C-W, nht:-GZ7K4BN3-H, nht:-L0NL9SSG-M, nht:-D3QGZPZF-X, nht:-GFRH27FQ-8, nht:-WR1M2L46-J, nht:-B7K9JH0Q-7, nht:-SM7K30D4-D, nht:-Z2SJVGJB-5, 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nht:-FKW7WDHC-J, nht:-BW35S2FK-2, nht:-M2LHRZR8-P, nht:-P37BV1CL-T, nht:-DNG09DFS-G, nht:-RFTCT224-P, nht:-N91CPS0L-X, nht:-MVDR8Q7L-S, nht:-CNQQHDSP-X, nht:-RWH07DGH-W, nht:-PKXG164K-B, nht:-KH702CDC-J, nht:-BH79JP4S-F, nht:-DTKTWG7S-F, nht:-H4LMQ3K5-N, nht:-VFLP2PDC-L, nht:-NGDJ26T8-F, nht:-KDBGVZP3-2, nht:-XX6ZMVWV-V, nht:-BTSJMB7X-S, nht:-X0FRHR9K-1, nht:-GM16K1JN-Q, nht:-X39F9RRB-W, nht:-GGFR1CSW-X, nht:-J469BPBZ-J, nht:-Z7RQ5R3M-V, nht:-RVB413W2-M, nht:-QM1S3CDZ-J, nht:-MT8DFSV2-8, nht:-LFQKK17P-6, nht:-VK1TX1VZ-3, nht:-PKHTWRFL-L, nht:-BDD7WJPS-8, nht:-PL9QXFPK-F, nht:-CRG2G32S-C, nht:-B3ZXPMX7-V, nht:-TC2M3JLC-4, nht:-KMQ50WFL-X, nht:-JWBKF809-R, nht:-KDKW75H5-N, nht:-WJF086PW-W, nht:-TV95TTF2-V, nht:-QJ6NCZGT-M, nht:-C45JFDF1-4, nht:-SKW4MVMT-M, nht:-TP5WKH25-Z, nht:-C1LDNKWN-6, nht:-WJ629V6Z-N, nht:-VTS5TQ45-F, nht:-JWCF8XB2-Z, nht:-ZP1QCX47-M, nht:-GKG1BLD1-G, nht:-D87BMZGH-6, nht:-S5VVZCSL-M, nht:-CGPT4S0H-6, nht:-L5T2NQV3-9, nht:-KWDF9GWH-W, nht:-V6X8QLZD-C, nht:-WLN68ZCH-L, nht:-T5ZSXHT4-T, nht:-JF8KST8B-0, nht:-QMJTH3LS-M, nht:-RGM2BXV0-6, nht:-X6V7BC4X-4, nht:-DSC0K9QM-X, nht:-S9D6K1VM-K, nht:-PTLP9B42-X, nht:-XVDGPZR1-N, nht:-M499V649-V, nht:-PPFLHVT2-V, nht:-FK1G8BGP-Q, nht:-LPZVVTNH-C, nht:-ND0ZHLPJ-L, nht:-WVWM1GJK-3, nht:-CW5P4Q78-9, nht:-HR872DW2-B, nht:-K9CKDJNS-S, nht:-D462KJV5-Z, nht:-P080KXNR-Q, nht:-VDBSZ7JT-H, nht:-T75P5BFV-D, nht:-W31PQJHT-1, nht:-JKKJGFHB-L, nht:-MG8P5JHW-W, nht:-L8DZZ6XC-P, nht:-WLJ8V4LP-P, nht:-N085FHVS-R, nht:-MK9NT316-X, nht:-GH01FD9C-6, nht:-DDCR0KRD-B, nht:-FTSPSPT0-B, nht:-RR7H26TJ-M ; rdfs:comment "Number of members: 546."@en, "Nombre de membres : 546."@fr ; isothes:superGroup nht:-Regroupement_par_type_sémantique ; skos:inScheme nht: ; skos:prefLabel "Analysis / Measure"@en, "Analyse / Mesure"@fr ; a isothes:ConceptGroup, skos:Collection . nht:-HR872DW2-B skos:prefLabel "difractometría de rayos X"@es, "diffractométrie RX"@fr, "X-ray diffractometry"@en ; a skos:Concept . nht:-MPXKH7FD-7 skos:prefLabel "spectral analysis"@en, "analyse spectrale"@fr, "análisis espectral"@es ; a skos:Concept . nht:-M2LHRZR8-P skos:prefLabel "brazilian disk test"@en, "ensayo de compresion diametral"@es, "essai de compression diamétrale"@fr ; a skos:Concept . nht:-JWBKF809-R skos:prefLabel "analyse de surface"@fr, "análisis de superficie"@es, "surface analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-JVRTNKV0-P skos:prefLabel "photoélasticité"@fr, "photoelasticity"@en, "fotoelasticidad"@es ; a skos:Concept . nht:-NXX2DBQ1-0 skos:prefLabel "espectrometría e-2e"@es, "spectrométrie e-2e"@fr, "e-2e spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-P7XJN0T3-2 skos:prefLabel "scanning force microscopy"@en, "microscopie à force de balayage"@fr, "microscopía de fuerza de barrido"@es ; a skos:Concept . nht:-TF89478Z-C skos:prefLabel "cyclic voltammetry"@en, "voltammétrie cyclique"@fr, "voltametría cíclica"@es ; a skos:Concept . nht:-K7T8159D-2 skos:prefLabel "magnetic variable measurement"@en, "medición de variable magnética"@es, "mesure de grandeur magnétique"@fr ; a skos:Concept . nht:-V86TR6RT-D skos:prefLabel "zero-gravity experiment"@en, "expérience en gravité zéro"@fr, "experimento de gravedad cero"@es ; a skos:Concept . nht:-P0XN2WMC-8 skos:prefLabel "análisis vibronico"@es, "analyse vibronique"@fr, "vibronic analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-WD2PWB9F-R skos:prefLabel "displacement measurement"@en, "mesure de déplacement"@fr, "medición de desplazamiento"@es ; a skos:Concept . nht:-BM85F51Q-B skos:prefLabel "EXELFS"@en, "structure fine à perte d'énergie étendue"@fr, "estructura fina de pérdida de energía ampliada"@es ; a skos:Concept . nht:-HQF0ZLVD-Z skos:prefLabel "mesure d'indice de réfraction"@fr, "medición de índice de refracción"@es, "refractive index measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-HKKSQRCM-F skos:prefLabel "análisis por electrodo selectivo de iones"@es, "ion-selective electrode analysis"@en, "analyse par électrode spécifique"@fr ; a skos:Concept . nht:-NTDMN4PK-M skos:prefLabel "torsion test"@en, "essai de torsion"@fr, "ensayo de torsion"@es ; a skos:Concept . nht:-VLBTCKRT-N skos:prefLabel "análisis de datos"@es, "analyse de données"@fr, "data analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-FXPXLSWG-Z skos:prefLabel "medición por ondas submilimétricas"@es, "mesure en ondes submillimétriques"@fr, "submillimeter wave measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-X9V3VZ47-G skos:prefLabel "corrélation angulaire perturbée différentielle"@fr, "differential PAC"@en, "correlación angular perturbada diferencial"@es ; a skos:Concept . nht:-QW84R27J-0 skos:prefLabel "método THM"@es, "THM method"@en, "méthode THM"@fr ; a skos:Concept . nht:-W4BN0W8X-K skos:prefLabel "microscopía electrónica de emisión"@es, "microscopie électronique en émission"@fr, "emission electron microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-XDDS26P8-P skos:prefLabel "medición de tensión eléctrica"@es, "mesure de tension électrique"@fr, "voltage measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-P4C35VQK-5 skos:prefLabel "Análisis de absorción de rayos X"@es, "analyse par absorption de rayons X"@fr, "X-ray absorption analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-S6LKZQBV-R skos:prefLabel "imaginería"@es, "imagerie"@fr, "imagery"@en ; a skos:Concept . nht:-TV95TTF2-V skos:prefLabel "ensayo de compresión"@es, "essai de compression"@fr, "compression test"@en ; a skos:Concept . nht:-ZQB8LJK1-X skos:prefLabel "espectrometría ir lejano"@es, "spectrométrie IR"@fr, "infrared spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-WGNSMM2W-N skos:prefLabel "multi-photon spectrometry"@en, "espectrometría multifotón"@es, "spectrométrie à n photons"@fr ; a skos:Concept . nht:-CCGX161N-5 skos:prefLabel "méthode d'échangeur de chaleur"@fr, "método del intercambiador de calor"@es, "heat exchanger method"@en ; a skos:Concept . nht:-RGM2BXV0-6 skos:prefLabel "análisis de Kramers-Kronig"@es, "Kramers-Kronig analysis"@en, "analyse de Kramers-Kronig"@fr ; a skos:Concept . nht:-SKW4MVMT-M skos:prefLabel "volumetría"@es, "volumetric analysis"@en, "volumétrie"@fr ; a skos:Concept . nht:-KZFMGLPH-5 skos:prefLabel "diagrama PVT"@es, "diagramme PVT"@fr, "PVT diagram"@en ; a skos:Concept . nht:-N7VLGJH0-5 skos:prefLabel "medición de longitud"@es, "mesure de longueur"@fr, "length measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-QP8235JR-K skos:prefLabel "band diagram"@en, "diagrama de banda"@es, "diagramme de bande"@fr ; a skos:Concept . nht:-LNW0BBQV-C skos:prefLabel "scanning near field optical microscopy"@en, "microscopía óptica de barrido de campo cercano"@es, "microscopie optique en champ proche"@fr ; a skos:Concept . nht:-L6KXR714-Z skos:prefLabel "autorradiografía"@es, "autoradiographie"@fr, "autoradiography"@en ; a skos:Concept . nht:-J0PF4Z7T-4 skos:prefLabel "mesure de perméabilité magnétique"@fr, "medición de permeabilidad magnética"@es, "magnetic permeability measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-SQDZQ3CV-3 skos:prefLabel "correlación angular perturbada"@es, "corrélation angulaire perturbée"@fr, "perturbed angular correlation"@en ; a skos:Concept . nht:-H814CG4D-F skos:prefLabel "difractometría de neutrones"@es, "diffractométrie de neutrons"@fr, "neutron diffractometry"@en ; a skos:Concept . nht:-NCQ1NCL4-J skos:prefLabel "medición de expansión térmica"@es, "mesure de dilatation thermique"@fr, "thermal expansion measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-XTJX7CFB-0 skos:prefLabel "microscopía de emisión de campo"@es, "microscopie à émission de champ"@fr, "field emission microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-Z2TKWK3P-2 skos:prefLabel "efusión de Knudsen"@es, "effusion de Knudsen"@fr, "Knudsen effusion"@en ; a skos:Concept . nht:-HPDVKVL7-N skos:prefLabel "espectrometría de resolución temporal"@es, "time-resolved spectrometry"@en, "spectrométrie à résolution temporelle"@fr ; a skos:Concept . nht:-R3QDGLXH-7 skos:prefLabel "análisis térmico diferencial"@es, "analyse thermique différentielle"@fr, "differential thermal analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-XVG672HS-B skos:prefLabel "réflectométrie"@fr, "reflectometría"@es, "reflectometry"@en ; a skos:Concept . nht:-DNHQ1393-T skos:prefLabel "thermoréflectance"@fr, "termoreflectancia"@es, "thermoreflectance"@en ; a skos:Concept . nht:-H7HLF3HN-G skos:prefLabel "profile refinement"@en, "afino de perfil"@es, "affinement du profil"@fr ; a skos:Concept . nht:-Z9JM0D8C-W skos:prefLabel "image analysis"@en, "análisis de imagen"@es, "analyse d'image"@fr ; a skos:Concept . nht:-ZLW68MHT-Z skos:prefLabel "energy-loss spectrometry"@en, "espectrometría de pérdida de energía"@es, "spectrométrie de perte d'énergie"@fr ; a skos:Concept . nht:-HSGBK1TP-9 skos:prefLabel "rugosimétrie"@fr, "rugometría"@es, "rugosimetry"@en ; a skos:Concept . nht:-TJ4B8L14-V skos:prefLabel "microscopía de onda térmica"@es, "microscopie à onde thermique"@fr, "thermal wave microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-FB81508L-J skos:prefLabel "holografía"@es, "holographie"@fr, "holography"@en ; a skos:Concept . nht:-CW5P4Q78-9 skos:prefLabel "ensayo de duración"@es, "life test"@en, "essai d'endurance"@fr ; a skos:Concept . nht:-DKKNBBKQ-D skos:prefLabel "profilométrie"@fr, "perfilometría"@es, "profilometry"@en ; a skos:Concept . nht:-MVDR8Q7L-S skos:prefLabel "nanoindentation"@fr, "nanoindentation"@en, "nanoindentacion"@es ; a skos:Concept . nht:-B1S3FQ8X-3 skos:prefLabel "medición de velocidad de los ultrasonidos"@es, "mesure de vitesse des ultrasons"@fr, "ultrasonic velocity measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-RPH9P2MZ-X skos:prefLabel "diagrama de polarización"@es, "diagramme de polarisation"@fr, "polarization diagram"@en ; a skos:Concept . nht:-BPK41Q81-N skos:prefLabel "voltametría"@es, "voltammétrie"@fr, "voltammetry"@en ; a skos:Concept . nht:-WWP2DG32-3 skos:prefLabel "ensayo de flexión"@es, "bending test"@en, "essai de flexion"@fr ; a skos:Concept . nht:-F6CC3D36-L skos:prefLabel "dielectric loss measurement"@en, "medición de pérdida dieléctrica"@es, "mesure de perte diélectrique"@fr ; a skos:Concept . nht:-FLMLH83J-0 skos:prefLabel "ensayo de frecuencia-respuesta"@es, "essai réponse fréquence"@fr, "frequency-response test"@en ; a skos:Concept . nht:-H278T2NB-9 skos:prefLabel "medición de calor"@es, "heat measurement"@en, "mesure de chaleur"@fr ; a skos:Concept . nht:-KWDF9GWH-W skos:prefLabel "corriente inducida por rayo láser"@es, "courant induit par faisceau laser"@fr, "LBIC"@en ; a skos:Concept . nht:-SXGS5SF0-X skos:prefLabel "análisis por microsonda iónica"@es, "analyse par microsonde ionique"@fr, "ion microprobe analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-JZRB1S9H-5 skos:prefLabel "acoustic variable measurement"@en, "mesure de grandeur acoustique"@fr, "medición de variable acústica"@es ; a skos:Concept . nht:-NVCCRJK7-T skos:prefLabel "emisión de rayos X inducida por partículas"@es, "PIXE"@en, "analyse PIXE"@fr ; a skos:Concept . nht:-VS10NB4R-Z skos:prefLabel "ensayo de tracción por flexión"@es, "essai de traction par flexion"@fr, "bending tensile test"@en ; a skos:Concept . nht:-K9CKDJNS-S skos:prefLabel "método potenciostático"@es, "méthode potentiostatique"@fr, "potentiostatic method"@en ; a skos:Concept . nht:-B2GCWQ2G-F skos:prefLabel "medición de impedancia eléctrica"@es, "electric impedance measurement"@en, "mesure d'impédance électrique"@fr ; a skos:Concept . nht:-XNS6FG4C-9 skos:prefLabel "espectrometría de iones"@es, "spectrométrie ionique"@fr, "ion spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-JL5FZGWX-C skos:prefLabel "análisis acústico"@es, "analyse acoustique"@fr, "acoustic analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-Q743NS6M-L skos:prefLabel "análisis químico por espectroscopia de masas"@es, "analyse chimique par spectrométrie de masse"@fr, "mass spectroscopic chemical analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-K9Z9DCG3-J skos:prefLabel "ensayo biaxial"@es, "essai biaxial"@fr, "biaxial test"@en ; a skos:Concept . nht:-LPZVVTNH-C skos:prefLabel "analyse par fluorescence de rayons X"@fr, "análisis por fluorescencia de rayos X"@es, "X-ray fluorescence analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-QCM8SSVC-7 skos:prefLabel "medición de características"@es, "mesure de caractéristiques"@fr, "characteristics measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-FJTG727F-J skos:prefLabel "microscopie électronique"@fr, "electron microscopy"@en, "microscopía electrónica"@es ; a skos:Concept . nht:-R6C2P34T-7 skos:prefLabel "fotometría IR"@es, "photométrie IR"@fr, "infrared photometry"@en ; a skos:Concept . nht:-M4H7SCJH-8 skos:prefLabel "análisis térmico"@es, "analyse thermique"@fr, "thermal analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-RML0M0F4-3 skos:prefLabel "ensayo de heladas"@es, "essai de gel-dégel"@fr, "frost test"@en ; a skos:Concept . nht:-GP8JH85L-V skos:prefLabel "dilatometría"@es, "dilatométrie"@fr, "dilatometry"@en ; a skos:Concept . nht:-QCWVR8C3-F skos:prefLabel "espectrometría fototérmica"@es, "photothermal spectrometry"@en, "spectrométrie photothermique"@fr ; a skos:Concept . nht:-GKG1BLD1-G skos:prefLabel "méthode de Borrmann"@fr, "método de Borrmann"@es, "Borrmann method"@en ; a skos:Concept . nht:-VSV318DH-1 skos:prefLabel "espectrometría optotérmica"@es, "optothermal spectrometry"@en, "spectrométrie optothermique"@fr ; a skos:Concept . nht:-D4CS55SZ-4 skos:prefLabel "análisis de absorción de radiación"@es, "radiation absorption analysis"@en, "analyse par absorption de rayonnement"@fr ; a skos:Concept . nht:-QLML8KK6-J skos:prefLabel "medición de intensidad de campo"@es, "mesure d'intensité de champ"@fr, "field strength measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-BRCRPHGJ-2 skos:prefLabel "espectrometría de electrones"@es, "electron spectrometry"@en, "spectrométrie électronique"@fr ; a skos:Concept . nht:-SRMRTJ29-J skos:prefLabel "diagramme à 2 couleurs"@fr, "diagrama de 2 colores"@es, "two-color diagram"@en ; a skos:Concept . nht:-GKTX3B09-Q skos:prefLabel "microscopía electrónica de transmisión"@es, "microscopie électronique en transmission"@fr, "transmission electron microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-FW1CHXZ8-S skos:prefLabel "figura de polo"@es, "pole figure"@en, "figure de pôle"@fr ; a skos:Concept . nht:-RNV2BXHK-8 skos:prefLabel "espectrometría de masas"@es, "spectrométrie de masse"@fr, "mass spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-S6SHSZC0-Z skos:prefLabel "Moire pattern"@en, "diagramme moiré"@fr, "diagrama moaré"@es ; a skos:Concept . nht:-FSZ0GFV1-6 skos:prefLabel "spectrométrie Mössbauer"@fr, "espectrometría Mössbauer"@es, "Moessbauer spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-NW3GNH9W-8 skos:prefLabel "interférométrie"@fr, "interferometría"@es, "interferometry"@en ; a skos:Concept . nht:-DNG09DFS-G skos:prefLabel "spectrométrie de Fourier"@fr, "espectrometría de Fourier"@es, "Fourier spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-MPNS7FLL-0 skos:prefLabel "espectrometría de absorción de rayos X"@es, "X-ray absorption spectrometry"@en, "spectrométrie d'absorption RX"@fr ; a skos:Concept . nht:-SKVGBZWP-R skos:prefLabel "surface enhanced Raman spectrometry"@en, "espectrometría SERS"@es, "spectrométrie SERS"@fr ; a skos:Concept . nht:-DCS64038-T skos:prefLabel "espectrometría Auger"@es, "spectrométrie Auger"@fr, "Auger electron spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-W9Q8QQBM-7 skos:prefLabel "analyse par microsonde protonique"@fr, "análisis por microsonda de protones"@es, "proton microprobe analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-HN4VNBD9-7 skos:prefLabel "precession method"@en, "méthode de precession"@fr, "método de precesión"@es ; a skos:Concept . nht:-BTBZHL07-T skos:prefLabel "picnometría"@es, "pycnométrie"@fr, "pycnometry"@en ; a skos:Concept . nht:-WRTJ8RRZ-3 skos:prefLabel "essai de rayage"@fr, "ensayo de rayado"@es, "scratching test"@en ; a skos:Concept . nht:-MK9NT316-X skos:prefLabel "medición de curvatura"@es, "mesure de courbure"@fr, "curvature measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-JLV2313R-4 skos:prefLabel "espectrometría de emisión atómica"@es, "atomic emission spectrometry"@en, "spectrométrie d'émission atomique"@fr ; a skos:Concept . nht:-D8V1WVVM-H skos:prefLabel "mesure de température"@fr, "medición de temperatura"@es, "temperature measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-HK5S5PG3-F skos:prefLabel "detección de defecto"@es, "détection de défaut"@fr, "defect detection"@en ; a skos:Concept . nht:-JKKJGFHB-L skos:prefLabel "mesure de champ magnétique"@fr, "medición de campo magnético"@es, "magnetic field measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-Z2SJVGJB-5 skos:prefLabel "essai de dilatation d'anneau"@fr, "ensayo de dilatacion sobre probeta anular"@es, "expanding ring test"@en ; a skos:Concept . nht:-MJT887PT-K skos:prefLabel "espectrometría de efecto túnel de electrones"@es, "spectrométrie tunnel électronique"@fr, "electron tunneling spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-NZP6HFTQ-9 skos:prefLabel "expérience de Snell"@fr, "Snell experiment"@en, "experimento de Snell"@es ; a skos:Concept . nht:-GM16K1JN-Q skos:prefLabel "medición dieléctrica"@es, "mesure diélectrique"@fr, "dielectric measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-J77KQP6F-P skos:prefLabel "espectrometría de tiempo de vuelo"@es, "time-of-flight spectrometry"@en, "spectrométrie à temps de vol"@fr ; a skos:Concept . nht:-N085FHVS-R skos:prefLabel "elastic modulus measurement"@en, "mesure de module d'élasticité"@fr, "medición de módulo elástico"@es ; a skos:Concept . nht:-HJZ6SF0V-S skos:prefLabel "diagrama hierro-carbono"@es, "diagramme fer-carbone"@fr, "iron carbon diagram"@en ; a skos:Concept . nht:-C8L523QF-W skos:prefLabel "técnica de trazador"@es, "tracer technique"@en, "technique de traceur"@fr ; a skos:Concept . nht:-QVRX9ZNV-D skos:prefLabel "microscopie Auger à balayage"@fr, "microscopía Auger de barrido"@es, "scanning Auger microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-DHQN5739-L skos:prefLabel "medición de intermodulación"@es, "intermodulation measurement"@en, "mesure d'intermodulation"@fr ; a skos:Concept . nht:-R339SLV6-Q skos:prefLabel "détection du signal"@fr, "detección de señal"@es, "signal detection"@en ; a skos:Concept . nht:-KH2HPSW9-R skos:prefLabel "reflectometría en dominio de tiempo"@es, "time-domain reflectometry"@en, "réflectométrie temporelle"@fr ; a skos:Concept . nht:-RXN5JJ4S-H skos:prefLabel "spectrométrie à battement quantique"@fr, "quantum beat spectrometry"@en, "espectrometría de latido cuántico"@es ; a skos:Concept . nht:-QJ6NCZGT-M skos:prefLabel "mesure d'épaisseur"@fr, "medición de espesor"@es, "thickness measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-RCR94T2P-Q skos:prefLabel "détermination de structure"@fr, "structure determination"@en, "determinación de estructura"@es ; a skos:Concept . nht:-MG8P5JHW-W skos:prefLabel "mode de balayage"@fr, "scanning mode"@en, "modo de barrido"@es ; a skos:Concept . nht:-JV3M4RCS-B skos:prefLabel "espectrometría túnel"@es, "spectrométrie tunnel"@fr, "tunneling spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-FK1G8BGP-Q skos:prefLabel "ensayo de fatiga de bajo ciclo"@es, "essai de fatigue oligocyclique"@fr, "low-cycle fatigue test"@en ; a skos:Concept . nht:-ZBBPQGDP-9 skos:prefLabel "strain measurement"@en, "medición de deformación"@es, "mesure de déformation"@fr ; a skos:Concept . nht:-K4HV47RQ-3 skos:prefLabel "interférométrie optique"@fr, "interferometría óptica"@es, "optical interferometry"@en ; a skos:Concept . nht:-RWQTTXLN-D skos:prefLabel "V notch impact test"@en, "ensayo de Charpy con muesca en V"@es, "essai de Charpy avec entaille en V"@fr ; a skos:Concept . nht:-G4W5NCMP-N skos:prefLabel "double-resonance method"@en, "méthode de double résonance"@fr, "método de doble resonancia"@es ; a skos:Concept . nht:-KDBGVZP3-2 skos:prefLabel "potenciometría"@es, "potentiometry"@en, "potentiométrie"@fr ; a skos:Concept . nht:-DDCR0KRD-B skos:prefLabel "spectrométrie de contact ponctuel"@fr, "espectrometría de punto de contacto"@es, "point-contact spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-XBB1DPWB-W skos:prefLabel "méthode de Faraday"@fr, "Faraday method"@en, "método de Faraday"@es ; a skos:Concept . nht:-CRG2G32S-C skos:prefLabel "microscopie électronique de Lorentz"@fr, "Lorentz electron microscopy"@en, "microscopía electrónica de Lorentz"@es ; a skos:Concept . nht:-H08CZLH2-7 skos:prefLabel "microscopie à fond sombre"@fr, "dark field microscopy"@en, "microscopía de campo oscuro"@es ; a skos:Concept . nht:-GZ7K4BN3-H skos:prefLabel "interferometría acústica"@es, "acoustic interferometry"@en, "interférométrie acoustique"@fr ; a skos:Concept . nht:-HQS8KV3Q-1 skos:prefLabel "imaginería RMN"@es, "imagerie RMN"@fr, "NMR imaging"@en ; a skos:Concept . nht:-C55P2PFX-1 skos:prefLabel "détermination de déplacement d'ouverture de fissure"@fr, "COD determination"@en, "determinación del desplazamiento de apertura de grieta"@es ; a skos:Concept . nht:-V5HFKSST-B skos:prefLabel "técnica de correlación angular"@es, "angular-correlation technique"@en, "technique de corrélation angulaire"@fr ; a skos:Concept . nht:-V496FRVJ-X skos:prefLabel "ellipsométrie spectroscopique"@fr, "spectroscopic ellipsometry"@en, "elipsometría espectroscópica"@es ; a skos:Concept . nht:-S9D6K1VM-K skos:prefLabel "DNMR"@en, "résonance magnétique nucléaire dynamique"@fr, "resonancia magnética nuclear dinámica"@es ; a skos:Concept . nht:-H1LT5B8L-6 skos:prefLabel "análisis químico"@es, "analyse chimique"@fr, "chemical analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-PQ7JPMJP-M skos:prefLabel "crack-edge stress field analysis"@en, "analyse du champ de contraintes de bord de fissure"@fr, "análisis del campo de tensiones en el borde de la grieta"@es ; a skos:Concept . nht:-XVDGPZR1-N skos:prefLabel "medición de descarga parciale"@es, "partial discharge measurement"@en, "mesure de décharge partielle"@fr ; a skos:Concept . nht:-W42LCZM1-3 skos:prefLabel "ensayo de muesca"@es, "essai d'entaille"@fr, "notch testing"@en ; a skos:Concept . nht:-Q0JRW2ZT-Q skos:prefLabel "analyse du mode de défaillance"@fr, "failure-mode analysis"@en, "análisis de modo de fallo"@es ; a skos:Concept . nht:-MT8DFSV2-8 skos:prefLabel "micrographie"@fr, "micrography"@en, "micrografía"@es ; a skos:Concept . nht:-SK3D8GL1-F skos:prefLabel "bright field microscopy"@en, "microscopía de campo claro"@es, "microscopie à fond clair"@fr ; a skos:Concept . nht:-CBJJ3GB4-G skos:prefLabel "technique de réplique"@fr, "replica technique"@en, "técnica de réplica"@es ; a skos:Concept . nht:-NJNN4STX-5 skos:prefLabel "filtrado de energía"@es, "filtrage d'énergie"@fr, "energy filtering"@en ; a skos:Concept . nht:-RFTCT224-P skos:prefLabel "analyse de phase"@fr, "phase analysis"@en, "análisis de fase"@es ; a skos:Concept . nht:-X04H3WK1-G skos:prefLabel "método del eco de impulsos"@es, "méthode d'écho d'impulsion"@fr, "pulse echo method"@en ; a skos:Concept . nht:-B9G66WD7-6 skos:prefLabel "spatial variable control"@en, "control de variable espacial"@es, "contrôle de variable spatiale"@fr ; a skos:Concept . nht:-JH8R4XKL-F skos:prefLabel "diagrama de rotación"@es, "diagramme de rotation"@fr, "rocking curve"@en ; a skos:Concept . nht:-W1J3D346-3 skos:prefLabel "espectrometría de doble resonancia"@es, "spectrométrie à double résonance"@fr, "double resonance spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht: skos:prefLabel "Vocabulario de física de la materia condensada"@es, "Vocabulaire de physique de l'état condensé"@fr, "Condensed matter physics vocabulary"@en ; a skos:ConceptScheme . nht:-MVC4J4Q1-V skos:prefLabel "angular velocity measurement"@en, "medición de velocidad angular"@es, "mesure de vitesse angulaire"@fr ; a skos:Concept . nht:-LM70NHPB-G skos:prefLabel "channeling pattern"@en, "diagrama de canalización"@es, "diagramme de canalisation"@fr ; a skos:Concept . nht:-QSTK81X6-R skos:prefLabel "microscopie à force piézoélectrique"@fr, "piezoelectric force microscopy"@en, "microscopía de fuerza piezoeléctrica"@es ; a skos:Concept . nht:-SHT2V4M1-D skos:prefLabel "análisis de averías"@es, "analyse de dommages"@fr, "failure analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-J4TQ3C11-F skos:prefLabel "espectrometría diferencial"@es, "spectrométrie différentielle"@fr, "differential spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-JC2PNJ0N-4 skos:prefLabel "espectrometría de rayos X de energía dispersiva"@es, "spectrométrie RX à dispersion d'énergie"@fr, "energy-dispersive X-ray spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-DBSCLPG1-N skos:prefLabel "essai de poinçonnage"@fr, "punching test"@en, "ensayo de punzonado"@es ; a skos:Concept . nht:-KXDJTHKV-T skos:prefLabel "espectrometría de luminescencia"@es, "spectrométrie de luminescence"@fr, "luminescence spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-B3CFJPSK-C skos:prefLabel "analyse chimique par méthode nucléaire"@fr, "método nuclear de análisis químico"@es, "nuclear chemical analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-WZPM73XQ-M skos:prefLabel "microscopía Auger"@es, "microscopie Auger"@fr, "Auger microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-C7PL2S4W-L skos:prefLabel "thermography"@en, "thermographie"@fr, "termografía"@es ; a skos:Concept . nht:-HRGH12WJ-K skos:prefLabel "error estimation"@en, "estimation d'erreur"@fr, "estimación de error"@es ; a skos:Concept . nht:-ZS2XGG8P-3 skos:prefLabel "ajuste de curva"@es, "curve fitting"@en, "ajustement de courbe"@fr ; a skos:Concept . nht:-H36WM1DT-Q skos:prefLabel "Voronoï diagram"@en, "diagrama de Voronoi"@es, "diagramme de Voronoï"@fr ; a skos:Concept . nht:-DK4SJNC8-H skos:prefLabel "comparative evaluation"@en, "évaluation comparative"@fr, "evaluación comparativa"@es ; a skos:Concept . nht:-RC08K4QC-8 skos:prefLabel "cromatografía de gases"@es, "chromatographie en phase gazeuse"@fr, "gas chromatography"@en ; a skos:Concept . nht:-ZQRMHDNW-1 skos:prefLabel "espectrometría óptica"@es, "spectrométrie optique"@fr, "optical spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-TKZQVKJ2-S skos:prefLabel "analyse par diffusion de rayonnement"@fr, "radiation scattering analysis"@en, "análisis de dispersión de radiaciones"@es ; a skos:Concept . nht:-R0180MD6-4 skos:prefLabel "ensayo de relaxación de tensión"@es, "essai de relaxation de contrainte"@fr, "stress relaxation test"@en ; a skos:Concept . nht:-F0V2N1WX-L skos:prefLabel "termogravimetría"@es, "thermogravimétrie"@fr, "thermogravimetry"@en ; a skos:Concept . nht:-D23ND9LJ-R skos:prefLabel "optoacoustical microscopy"@en, "microscopía optoacústica"@es, "microscopie optoacoustique"@fr ; a skos:Concept . nht:-R4KSP2RV-4 skos:prefLabel "microscopía electrónica de barrido y transmisión"@es, "microscopie électronique à balayage en transmission"@fr, "scanning transmission electron microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-L2BF926T-F skos:prefLabel "microscopie confocale"@fr, "confocal microscopy"@en, "microscopía confocal"@es ; a skos:Concept . nht:-XLVS514B-K skos:prefLabel "análisis de activación de partícula cargada"@es, "analyse par activation de particule chargée"@fr, "charged-particle activation analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-D6X1D1GT-V skos:prefLabel "expérience de Stern-Gerlach"@fr, "Stern-Gerlach experiment"@en, "experimento de Stern-Gerlach"@es ; a skos:Concept . nht:-Q5QRX89T-C skos:prefLabel "analyse par diffraction de rayons X"@fr, "análisis por difracción de rayos X"@es, "X-ray diffraction analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-PPFLHVT2-V skos:prefLabel "ensayo de velocidad de deformación lenta"@es, "essai de vitesse de déformation lente"@fr, "slow strain rate test"@en ; a skos:Concept . nht:-J469BPBZ-J skos:prefLabel "análisis químico por rayos X"@es, "analyse chimique par rayons X"@fr, "X-ray chemical analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-GB8916DP-W skos:prefLabel "medición de tamaño"@es, "mesure de dimension"@fr, "size measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-WJ629V6Z-N skos:prefLabel "acoustic holography"@en, "holografía acústica"@es, "holographie acoustique"@fr ; a skos:Concept . nht:-GPPD5KQX-D skos:prefLabel "mesure de contrainte"@fr, "medición de tensión"@es, "stress measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-B5J8MHK4-J skos:prefLabel "time-of-flight method"@en, "método del tiempo de vuelo"@es, "méthode du temps de vol"@fr ; a skos:Concept . nht:-JHZMFLJK-0 skos:prefLabel "método de los límites móviles"@es, "moving-boundary method"@en, "méthode des frontières mobiles"@fr ; a skos:Concept . nht:-X5CR867G-B skos:prefLabel "atom probe field ion microscopy"@en, "microscopie ionique à émission de champ couplée à une sonde atomique"@fr, "microscopía iónica de campo con sonda atómica"@es ; a skos:Concept . nht:-F06P1WTX-P skos:prefLabel "difractometría de electrones"@es, "diffractométrie d'électrons"@fr, "electron diffractometry"@en ; a skos:Concept . nht:-XKN1LQWC-T skos:prefLabel "unsticking test"@en, "essai d'arrachement par décollement"@fr, "ensayo de despegue"@es ; a skos:Concept . nht:-C8V27BNT-8 skos:prefLabel "viscosimétrie"@fr, "viscosimetría"@es, "viscosimetry"@en ; a skos:Concept . nht:-VB6GV3T8-W skos:prefLabel "técnica de spin label"@es, "technique de marquage de spin"@fr, "spin label technique"@en ; a skos:Concept . nht:-B7K9JH0Q-7 skos:prefLabel "microscopie interférentielle"@fr, "interference microscopy"@en, "microscopía de interferencia"@es ; a skos:Concept . nht:-CF3M6L16-H skos:prefLabel "medición de variable espacial"@es, "spatial variables measurement"@en, "mesure de grandeur spatiale"@fr ; a skos:Concept . nht:-Z4J34716-4 skos:prefLabel "elipsometría"@es, "ellipsométrie"@fr, "ellipsometry"@en ; a skos:Concept . nht:-NZM8TL46-V skos:prefLabel "espectrometría bidimensional"@es, "two-dimensional spectrometry"@en, "spectrométrie à 2 dimensions"@fr ; a skos:Concept . nht:-PKHTWRFL-L skos:prefLabel "interferometría diferencial"@es, "interférométrie différentielle"@fr, "differential interferometry"@en ; a skos:Concept . nht:-GH01FD9C-6 skos:prefLabel "analyse des contraintes"@fr, "stress analysis"@en, "análisis de tensión"@es ; a skos:Concept . nht:-KLZW8J3F-Z skos:prefLabel "détection de fissure"@fr, "crack detection"@en, "detección de grieta"@es ; a skos:Concept . nht:-FW2WPFBJ-Q skos:prefLabel "cromatografía de permeación en gel"@es, "gel permeation chromatography"@en, "chromatographie par perméation de gel"@fr ; a skos:Concept . nht:-FQZTJ46K-J skos:prefLabel "imaginería CCD"@es, "imagerie CCD"@fr, "CCD imaging"@en ; a skos:Concept . nht:-SW481M4D-5 skos:prefLabel "méthode de Bridgman"@fr, "Bridgman method"@en, "método de Bridgman"@es ; a skos:Concept . nht:-H00JJ68D-K skos:prefLabel "potential-pH diagram"@en, "diagrama potencial-pH"@es, "diagramme potentiel-pH"@fr ; a skos:Concept . nht:-FR7SPDPM-Q skos:prefLabel "ensayo de materiales"@es, "materials test"@en, "essai de matériau"@fr ; a skos:Concept . nht:-BW92LPCB-Q skos:prefLabel "thermomagnetic analysis"@en, "analyse thermomagnétique"@fr, "análisis termomagnético"@es ; a skos:Concept . nht:-WBVHMNW4-P skos:prefLabel "density control"@en, "control de densidad"@es, "contrôle de densité"@fr ; a skos:Concept . nht:-PL9QXFPK-F skos:prefLabel "méthode de la liaison de valence"@fr, "valence bond method"@en, "método del enlace de valencia"@es ; a skos:Concept . nht:-DTKTWG7S-F skos:prefLabel "submillimeter wave spectrometry"@en, "espectrometría de onda submilimétrica"@es, "spectrométrie d'onde submillimétrique"@fr ; a skos:Concept . nht:-JSFW44LP-9 skos:prefLabel "mesure de conductivité thermique"@fr, "medición de conductividad térmica"@es, "thermal conductivity measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-GFGXQZRX-R skos:prefLabel "spectral method of temperature measurement"@en, "méthode spectrale de mesure de température"@fr, "método espectral de medición de la temperatura"@es ; a skos:Concept . nht:-R6WR2HLL-8 skos:prefLabel "mapping"@en, "cartografía"@es, "cartographie"@fr ; a skos:Concept . nht:-X2KLFT5W-P skos:prefLabel "X-ray emission analysis"@en, "analyse par émission de rayons X"@fr, "análisis por emisión de rayos X"@es ; a skos:Concept . nht:-ND0ZHLPJ-L skos:prefLabel "contrôle de déformation mécanique"@fr, "strain control"@en, "control de deformación"@es ; a skos:Concept . nht:-GV1FQ5H5-J skos:prefLabel "qualitative chemical analysis"@en, "análisis cualitativo"@es, "analyse qualitative"@fr ; a skos:Concept . nht:-W0RB1Z4B-3 skos:prefLabel "diagrama de Feynman"@es, "diagramme de Feynman"@fr, "Feynman diagram"@en ; a skos:Concept . nht:-X1VM61XK-D skos:prefLabel "espectrofotometría"@es, "spectrophotométrie"@fr, "spectrophotometry"@en ; a skos:Concept . nht:-CNQQHDSP-X skos:prefLabel "medición de factor Q"@es, "mesure de facteur de qualité"@fr, "Q-factor measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-C9SSZQXC-8 skos:prefLabel "microscopie à électron lent"@fr, "microscopía electrónica de baja energía"@es, "low energy electron microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-KBRZ4BF1-C skos:prefLabel "espectrometría de potencial de aparición"@es, "spectrométrie APS"@fr, "APS"@en ; a skos:Concept . nht:-TC2M3JLC-4 skos:prefLabel "dosimétrie ionique"@fr, "ion dosimetry"@en, "dosimetría iónica"@es ; a skos:Concept . nht:-VRHJN2M0-6 skos:prefLabel "difractometría de electrones de baja energía"@es, "low-energy electron diffractometry"@en, "diffractométrie d'électrons lents"@fr ; a skos:Concept . nht:-HC2PLL51-8 skos:prefLabel "microscopie électronique en émission de champ"@fr, "field electron microscopy"@en, "microscopía electrónica de emisión de campo"@es ; a skos:Concept . nht:-ZCJC7NGS-L skos:prefLabel "calorimetría"@es, "calorimétrie"@fr, "calorimetry"@en ; a skos:Concept . nht:-M53JKKXW-C skos:prefLabel "microscopie ionique"@fr, "ion microscopy"@en, "microscopía iónica"@es ; a skos:Concept . nht:-D4RMBRXP-W skos:prefLabel "double résonance optique hertzienne"@fr, "doble resonancia óptica hertziana"@es, "optical microwave double resonance"@en ; a skos:Concept . nht:-X6V7BC4X-4 skos:prefLabel "análisis químico estructural"@es, "analyse chimique structurale"@fr, "structural chemical analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-PM51XZPH-Z skos:prefLabel "ODMR"@en, "détection optique de résonance magnétique"@fr, "detección óptica de resonancia magnética"@es ; a skos:Concept . nht:-MX7SR9KH-0 skos:prefLabel "espectrometría por transformada de Fourier"@es, "Fourier transform spectrometry"@en, "spectrométrie à transformée de Fourier"@fr ; a skos:Concept . nht:-C95R8M9G-H skos:prefLabel "light velocity measurement"@en, "medición de velocidad de la luz"@es, "mesure de vitesse de la lumière"@fr ; a skos:Concept . nht:-W1D44BVK-Z skos:prefLabel "diagrama de difusión"@es, "diagramme de diffusion"@fr, "scattering pattern"@en ; a skos:Concept . nht:-LXWCSNQ8-W skos:prefLabel "tomografía"@es, "tomography"@en, "tomographie"@fr ; a skos:Concept . nht:-H6G35Q0G-N skos:prefLabel "essai de traction-compression"@fr, "ensayo de tracción compresión"@es, "tension compression fatigue test"@en ; a skos:Concept . nht:-X39F9RRB-W skos:prefLabel "radiografía neutrónica"@es, "radiographie neutronique"@fr, "neutron radiography"@en ; a skos:Concept . nht:-LFQKK17P-6 skos:prefLabel "análisis de modo acoplado"@es, "analyse en mode couplé"@fr, "coupled-mode analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-Q0MLBDKM-4 skos:prefLabel "análisis de forma"@es, "analyse de forme"@fr, "pattern analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-BPC48B3B-2 skos:prefLabel "Vickers test"@en, "ensayo de Vickers"@es, "essai de Vickers"@fr ; a skos:Concept . nht:-QXXRC7R1-B skos:prefLabel "espectrometría RMN"@es, "spectrométrie RMN"@fr, "NMR spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-JKHMM7LQ-B skos:prefLabel "espectrometría de coincidencia"@es, "coincidence spectrometry"@en, "spectrométrie de coïncidence"@fr ; a skos:Concept . nht:-R23LVM8N-X skos:prefLabel "Bond method"@en, "méthode de Bond"@fr, "método de Bond"@es ; a skos:Concept . nht:-C228CKXR-N skos:prefLabel "anémométrie"@fr, "anemometry"@en, "anemometría"@es ; a skos:Concept . nht:-QPKRRBB2-L skos:prefLabel "microscopie en transmission à balayage"@fr, "scanning transmission microscopy"@en, "microscopía de transmisión de barrido"@es ; a skos:Concept . nht:-X1242581-6 skos:prefLabel "interferometría electrónica de moteado"@es, "interférométrie de speckle électronique"@fr, "electronic speckle pattern interferometry"@en ; a skos:Concept . nht:-Z7H9HGN5-F skos:prefLabel "détection de rayons X"@fr, "X-ray detection"@en, "detección de rayos X"@es ; a skos:Concept . nht:-T35MWHK0-J skos:prefLabel "essai de fléchissement sous charge"@fr, "deflection test under load"@en, "ensayo de flexión bajo carga"@es ; a skos:Concept . nht:-W0VBNL0N-3 skos:prefLabel "medición de topografía superficial"@es, "mesure de topographie de surface"@fr, "surface topography measurement"@en ; a skos:Concept . nht:-D462KJV5-Z skos:prefLabel "análisis de textura"@es, "texture analysis"@en, "analyse de texture"@fr ; a skos:Concept . nht:-RSHGGCJS-D skos:prefLabel "technologie à faisceau d'ions focalisé"@fr, "focused ion beam technology"@en, "tecnología de haz de iones focalizado"@es ; a skos:Concept . nht:-XGVTHQ1N-8 skos:prefLabel "microscopía de fuerza"@es, "microscopie de force"@fr, "force microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-PX9W6FGF-D skos:prefLabel "méthode de Debye-Scherrer"@fr, "Debye-Scherrer method"@en, "método de Debye-Scherrer"@es ; a skos:Concept . nht:-ST41C4SS-M skos:prefLabel "ensayo al desgaste"@es, "wear test"@en, "essai d'usure"@fr ; a skos:Concept . nht:-SSLK1CPV-N skos:prefLabel "espectrometría dispersiva"@es, "dispersive spectrometry"@en, "spectrométrie dispersive"@fr ; a skos:Concept . nht:-C7FQD3F1-Z skos:prefLabel "ball-on-disk testing"@en, "ensayo de resistencia de bola sobre disco"@es, "essai bille-disque"@fr ; a skos:Concept . nht:-QQN33DQK-5 skos:prefLabel "interférométrie à longueur d'onde variable"@fr, "variable wavelength interferometry"@en, "interferometría de longitud de onda variable"@es ; a skos:Concept . nht:-TPGLQL6G-F skos:prefLabel "cristallographie par rayons X"@fr, "X-ray crystallography"@en, "cristalografía de rayos X"@es ; a skos:Concept . nht:-L89H1RVD-2 skos:prefLabel "microscopía electrónica de barrido"@es, "microscopie électronique à balayage"@fr, "scanning electron microscopy"@en ; a skos:Concept . nht:-QWDRHXSX-Z skos:prefLabel "shock measurement"@en, "mesure de choc"@fr, "medición de choque"@es ; a skos:Concept . nht:-PHX4796G-4 skos:prefLabel "X-ray microscopy"@en, "microscopía de rayos X"@es, "microscopie RX"@fr ; a skos:Concept . nht:-KPFKJD74-9 skos:prefLabel "analyse en mode propre"@fr, "análisis de modo normal"@es, "normal-mode analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-KV9S1RHG-D skos:prefLabel "photo-induced transient spectrometry"@en, "spectrométrie de transitoire photoinduit"@fr, "espectrometría de transitorio fotoinducido"@es ; a skos:Concept . nht:-DD9Q4L2Z-H skos:prefLabel "méthode de Bijvoet"@fr, "Bijvoet method"@en, "método de Bijvoet"@es ; a skos:Concept . nht:-WKCC14SL-Z skos:prefLabel "Bode diagram"@en, "diagramme de Bode"@fr, "diagrama de Bode"@es ; a skos:Concept . nht:-P547QSJX-1 skos:prefLabel "reconocimiento de patrón"@es, "reconnaissance de forme"@fr, "pattern recognition"@en ; a skos:Concept . nht:-RVB413W2-M skos:prefLabel "radiometría"@es, "radiométrie"@fr, "radiometry"@en ; a skos:Concept . nht:-B2FK40D0-H skos:prefLabel "espectrometría de fotoelectrones de rayos X"@es, "X-ray photoelectron spectrometry"@en, "spectrométrie photoélectronique X"@fr ; a skos:Concept . nht:-JV7VWK68-V skos:prefLabel "courant induit par faisceau optique"@fr, "OBIC"@en, "corriente inducida por haz óptico"@es ; a skos:Concept . nht:-JWCF8XB2-Z skos:prefLabel "beam-foil method"@en, "método beam-foil"@es, "méthode faisceau-feuille"@fr ; a skos:Concept . nht:-G81T36GB-2 skos:prefLabel "secuencia COSY"@es, "séquence COSY"@fr, "COSY sequence"@en ; a skos:Concept . nht:-XWXBGS1M-9 skos:prefLabel "essai par ultrasons"@fr, "ensayo ultrasonido"@es, "ultrasonic test"@en ; a skos:Concept . nht:-KWQ295QX-X skos:prefLabel "iodometría"@es, "iodométrie"@fr, "iodometry"@en ; a skos:Concept . nht:-L5T2NQV3-9 skos:prefLabel "chromatographie d'échange d'ions"@fr, "cromatografía de intercambio iónico"@es, "ion-exchange chromatography"@en ; a skos:Concept . nht:-FZR2R2G6-1 skos:prefLabel "espectrometría de microondas"@es, "spectrométrie hyperfréquence"@fr, "microwave spectrometry"@en ; a skos:Concept . nht:-M76BQ3HT-G skos:prefLabel "stress determination"@en, "détermination de contrainte"@fr, "determinación de esfuerzo"@es ; a skos:Concept . nht:-D8ZX7K8T-N skos:prefLabel "diagramme de phase magnétique"@fr, "magnetic phase diagram"@en, "diagrama de fase magnética"@es ; a skos:Concept . nht:-MBB559LJ-2 skos:prefLabel "analyse de la vitesse des particules"@fr, "análisis de velocidad de partículas"@es, "particle-velocity analysis"@en ; a skos:Concept . nht:-HXQ5410Z-T skos:prefLabel "rotating beam fatigue test"@en, "essai de flexion rotative"@fr, "ensayo de flexión rotativa"@es ; a skos:Concept . nht:-R2TJKSKR-8 skos:prefLabel "photoelectron microscopy"@en, "microscopie de photoélectrons"@fr, "microscopía fotoelectrónica"@es ; a skos:Concept . nht:-KR9H4339-C skos:prefLabel "double résonance électron-noyau"@fr, "doble resonancia electrón-nuclear"@es, "ENDOR"@en ; a skos:Concept . nht:-F45FPVKP-6 skos:prefLabel "microscopía túnel de barrido"@es, "scanning tunneling microscopy"@en, "microscopie tunnel à balayage"@fr ; a skos:Concept . nht:-GPF94L6N-C skos:prefLabel "holografía electrónica"@es, "holographie électronique"@fr, "electron holography"@en ; a skos:Concept . nht:-QL1407PF-B skos:prefLabel "diagrama de difracción"@es, "diffraction pattern"@en, "diagramme de diffraction"@fr ; a skos:Concept . nht:-MK6VVVJT-R skos:prefLabel "prueba de pelado"@es, "essai d'arrachement"@fr, "peeling test"@en ; a skos:Concept . nht:-BZJDB33T-3 skos:prefLabel "méthode de résonance"@fr, "método de resonancia"@es, "resonance technique"@en ; a skos:Concept . nht:-W97GSZVW-4 skos:prefLabel "análisis en el dominio de frecuencia"@es, "analyse en domaine fréquentiel"@fr, "frequency-domain analysis"@en ; a skos:Concept .