@prefix bjw: <http://data.loterre.fr/ark:/67375/BJW> .
@prefix skos: <http://www.w3.org/2004/02/skos/core#> .
@prefix isothes: <http://purl.org/iso25964/skos-thes#> .
@prefix inist: <http://www.inist.fr/Ontology#> .

bjw: a skos:ConceptScheme .
<http://data.loterre.fr/ark:/67375/BJW/AMES>
  skos:prefLabel "Análisis / Medida"@es, "Analyse / Mesure"@fr, "Analysis / Measure"@en ;
  a isothes:ConceptGroup ;
  skos:member bjw:-W9P52Q04-2 .

bjw:-W9P52Q04-2
  skos:prefLabel "semiconductor device test"@en, "prueba de dispositivo semiconductor"@es, "essai de dispositif semiconducteur"@fr ;
  inist:semCategory "Análisis/Medida"@es, "Analyse / Mesure"@fr, "Analysis / Measure"@en ;
  skos:hiddenLabel "Semiconductor device testing"@en, "Essai dispositif semiconducteur"@fr ;
  skos:inScheme bjw: ;
  a skos:Concept ;
  skos:altLabel "ensayo de dispositivo semiconductor"@es .